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恭喜中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司郑二虎获国家专利权

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龙图腾网恭喜中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司申请的专利半导体结构的形成方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113675088B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2024-11-22发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202010413814.3,技术领域涉及:H01L21/336;该发明授权半导体结构的形成方法是由郑二虎设计研发完成,并于2020-05-15向国家知识产权局提交的专利申请。

半导体结构的形成方法在说明书摘要公布了:一种半导体结构的形成方法,包括:提供衬底晶圆,所述衬底晶圆具有相对的第一面和第二面;对所述晶圆的第一面进行刻蚀,在所述晶圆内形成凹槽;在所述晶圆的第二面形成第二应变层,所述第二应变层用于使所述晶圆内具有第二应力;在所述凹槽内形成第一应变层,所述第一应变层用于使所述晶圆具有第一应力。从而,改善了半导体结构的应力。

本发明授权半导体结构的形成方法在权利要求书中公布了:1.一种半导体结构的形成方法,其特征在于,包括:提供衬底晶圆,所述衬底晶圆具有相对的第一面和第二面;对所述晶圆的第一面进行刻蚀,在所述晶圆内形成凹槽;在所述晶圆的第二面形成第二应变层,所述第二应变层用于使所述晶圆内具有第二应力;通过第二应力对第一应力的抵消,使得第一应力和第二应力之间更为平衡、晶圆内整体所受到的应力也较为均匀;在所述凹槽内形成第一应变层,所述第一应变层用于使所述晶圆具有第一应力;形成所述第二应变层的方法包括:在形成所述第一应变层前,采用炉管工艺在所述晶圆的第一面和第二面形成第二应变材料层;刻蚀所述第一面的第二应变材料层,直至去除所述第一面的第二应变材料层。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,其通讯地址为:201203 上海市浦东新区张江路18号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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