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龙图腾网恭喜FEI公司申请的专利使用模拟样本图像训练人工神经网络获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN110796631B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-01-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910612693.2，技术领域涉及：G06N3/08；该发明授权使用模拟样本图像训练人工神经网络是由O.马彻克;T.维斯塔维尔;L.斯特拉科斯;P.波托切克设计研发完成，并于2019-07-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本使用模拟样本图像训练人工神经网络在说明书摘要公布了：本发明描述了使用模拟样本图像训练人工神经网络ANN的技术。模拟样本图像是基于数据模型生成的。所述数据模型描述晶体材料的特征和一种或多种缺陷类型的特征。所述数据模型不包括任何图像数据。将模拟样本图像作为训练数据输入到训练算法中，以生成用于识别晶体材料中的缺陷的人工神经网络ANN。经训练后，所述ANN分析捕获的样本图像以识别其中示出的缺陷。

本发明授权使用模拟样本图像训练人工神经网络在权利要求书中公布了：1.一种包括指令的非暂时性计算机可读介质，当所述指令由一个或多个硬件设备执行时使得执行操作，所述操作包括：获取第一数据模型，其包括：a晶体材料的一种或多种特征，b第一缺陷类型的一种或多种特征，以及c第一显微镜的一种或多种特征；将至少所述第一数据模型应用于模拟模型以生成第一模拟样本图像，其中，所述第一模拟样本图像示出包括所述第一缺陷类型的第一组一个或多个缺陷的所述晶体材料；获取第二数据模型，其包括：a所述晶体材料的所述一种或多种特征，b所述第一缺陷类型的所述一种或多种特征，以及c不同于所述第一显微镜的所述一种或多种特征的第二显微镜的一种或多种特征；将至少所述第二数据模型应用于所述模拟模型以生成第二模拟样本图像，其中所述第二模拟样本图像示出了包括所述第一缺陷类型的第二组一个或多个缺陷的所述晶体材料；将包括所述第一模拟样本图像和所述第二模拟样本图像的一组一个或多个模拟样本图像作为训练数据输入到训练算法中以生成人工神经网络；生成所述人工神经网络，其中，所述人工神经网络被配置为检测一组一个或多个扫描样本图像中示出的所述晶体材料中的所述第一缺陷类型的第三组一个或多个缺陷。

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