恭喜北京三禾泰达技术有限公司贾怀宇获国家专利权
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龙图腾网恭喜北京三禾泰达技术有限公司申请的专利一种可批量测量用高精度激光晶圆厚度测量仪获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222579213U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-07发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202420545063.4,技术领域涉及:G01B11/06;该实用新型一种可批量测量用高精度激光晶圆厚度测量仪是由贾怀宇设计研发完成,并于2024-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种可批量测量用高精度激光晶圆厚度测量仪在说明书摘要公布了:本实用新型涉及测量仪技术领域,尤其为一种可批量测量用高精度激光晶圆厚度测量仪,包括装置本体,还包括:传送带机构,所述传送带机构设置于装置本体上表面中部,所述传送带机构表面设置有若干个限位机构;测量机构,所述测量机构设置于装置本体上表面一侧中部;底座,所述底座设置有若干个且上端与装置本体下表面四周固定连接;控制器,所述控制器与测量机构一侧固定连接,本实用新型,通过设置的传送带机构和限位机构,实现了多个测量单位集中进行测量,有效的提高了测量的效率,并且提高了测量的速度和精准度,从而提高生产速度。
本实用新型一种可批量测量用高精度激光晶圆厚度测量仪在权利要求书中公布了:1.一种可批量测量用高精度激光晶圆厚度测量仪,包括装置本体1,其特征在于,还包括:传送带机构2,所述传送带机构2设置于装置本体1上表面中部,所述传送带机构2表面设置有若干个限位机构6;测量机构4,所述测量机构4设置于装置本体1上表面一侧中部;底座3,所述底座3设置有若干个且上端与装置本体1下表面四周固定连接;控制器5,所述控制器5与测量机构4一侧固定连接;所述测量机构4包括:测量箱8,所述测量箱8下端两侧固定连接有若干个测量箱底座14,所述测量箱底座14下端与装置本体1上表面两侧固定连接;安装座9,所述安装座9上端与测量箱8内顶部固定连接,所述安装座9下端设置有若干个上测量机构10;下测量机构11,所述下测量机构11共设置有若干个且与上测量机构10相对应垂直设置,所述下测量机构11设置于传送带12一端内侧。
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