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龙图腾网恭喜浙江大学申请的专利一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114544775B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210134843.5，技术领域涉及：G01N29/06；该发明授权一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法是由赵朋;纪凯鹏;卓超杰;金浩然;陈剑;叶盛;高世权;周绍华;傅建中设计研发完成，并于2022-02-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法，包括以下步骤：1将采集的多层结构的全矩阵数据通过三维快速傅里叶变换转换到频率波数域；2针对该多层结构中任一未遍历层，将多层结构的表面波场外推至该未遍历层的上界面，得到该未遍历层的波场信息；3根据得到的波场信息，在频率波数域内对该未遍历层进行聚焦成像；4重复步骤2和3，直至所有层遍历完毕，得到多层结构的成像结果。本发明的成像方法，仅采用叠加和二维傅里叶变换两种算子，不需要频域相位偏移中的互相关算子，大大降低了内存需求和计算复杂度，缩短了计算时间，提高了成像效率；且成像分辨率高。

本发明授权一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法在权利要求书中公布了：1.一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法，其特征在于，包括以下步骤：1将采集的多层结构的全矩阵数据通过三维快速傅里叶变换转换到频率波数域；2针对该多层结构中任一未遍历层，将多层结构的表面波场外推至该未遍历层的上界面，得到该未遍历层的波场信息；3根据得到的波场信息，在频率波数域内对该未遍历层进行聚焦成像；4重复步骤2和3，直至所有层遍历完毕，得到所述多层结构的成像结果；步骤2中，采用双平方根竖直波数来对所述多层结构的表面波场进行外推；多层结构中任一层m的双平方根竖直波数kz,m通过下式计算得到： 其中，ω表示频率；cm表示第m层的声速；krx为接收振元的水平波数；ksx为发射振元的水平波数；步骤3中，在频率波数域内以时间t＝0为成像条件对所述未遍历层进行聚焦成像；以时间t＝0为成像条件的成像结果Ix,z表达式如下： 其中，krx为接收振元的水平波数；i为虚数单位；ksx为发射振元的水平波数；x表示相控阵传感器阵列排布方向；ω表示频率；kz,n表示第n层在z方向上的偏移波数；z表示外推深度；zn-1表示第n-1层的下界面深度；n∈[1，N]，N表示多层结构的层数；kz,m表示第m层在z方向上的偏移波数；dm表示第m层的厚度。

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