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龙图腾网恭喜北京量拓科技有限公司申请的专利一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114279693B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210098998.8，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法是由孟永宏;朱宗洋;杨良设计研发完成，并于2022-01-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法，涉及入射角扫描的技术领域，其包括以下步骤：S1：将样品放置在样品台上；S2：测量，寻找样品的快慢轴；S3：将快轴或慢轴方向旋转到入射面内，将起偏臂和检偏臂设置在同一条直线上，对样品做透射测量；S4：调整起偏臂和检偏臂之间的夹角，对样品做反射测量；S5：对样品进行旋转，改变入射角，测量透射或反射。本申请具有该系统对不同厚度的样品既可做入射角扫描的透射也可做入射角扫描的反射的效果。

本发明授权一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法在权利要求书中公布了：1.一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法，其特征在于：所述入射角扫描的样品相位延迟测量系统包括起偏臂（1）、样品台（2）、底部旋转台（3）以及检偏臂（4）；检偏臂（4）固设在底部旋转台（3）上，样品台（2）与底部旋转台（3）同轴设置，且位于起偏臂（1）和检偏臂（4）之间，样品台（2）用于放置待测样品，起偏臂（1）向样品发出光束，检偏臂（4）用于检测透过样品后光束的偏振状态；样品台（2）包括由下至上依次设置的中间旋转台（21）和竖直旋转台（22）；中间旋转台（21）与底部旋转台（3）同轴设置，竖直旋转台（22）竖直的设置在中间旋转台（21）上，样品放置在竖直旋转台（22）上；底部旋转台（3）和检偏臂（4）之间设置有平移台（6），平移台（6）包括固设在底部旋转台（3）上的滑道（61）和固设在检偏臂（4）上的滑块（62），滑块（62）和滑道（61）相适配，使得滑块（62）可在滑道（61）上滑动，从而使检偏臂（4）在滑道（61）上滑动，检偏臂（4）的移动方向与底部旋转台（3）的切向方向平行；所述使用方法包括以下步骤：S1：将样品放置在样品台2上；S2：测量，寻找样品的快慢轴；S3：将快轴或慢轴方向旋转到入射面内，将起偏臂1和检偏臂4设置在同一条直线上，对样品做透射测量；S4：调整起偏臂1和检偏臂4之间的夹角，对样品做反射测量；S5：对样品进行旋转，改变入射角，测量透射或反射。

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