恭喜中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))王磊获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利测试结构和测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113900008B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111079609.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权测试结构和测试方法是由王磊;肖慧;方文啸;邵伟恒;黄权;李键坷;刘加豪;来萍;路国光;黄云设计研发完成，并于2021-09-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试结构和测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种测试结构及测试方法，测试结构包括：多条射频链路，各所述射频链路均包括多个焊点以及位于相邻焊点之间与焊点相连接的传输线；不同所述射频链路中至少一处对应的所述传输线的长度不同。对测试结构中的各射频链路进行阻抗测试，以得到各射频链路的阻抗‑时间曲线，根据阻抗‑时间曲线和各射频链路的结构可以识别出长度不同的传输线，从而识别出各射频链路中的焊点和传输线，如果此时有射频链路中存在失效点，由于焊点和传输线已经识别出来，就可以实现对失效点的精确定位，准确分析器件失效位置，满足新型射频器件研制以及应用可靠性研究需求。
本发明授权测试结构和测试方法在权利要求书中公布了：1.一种测试结构，其特征在于，所述测试结构包括：球栅阵列中的多条射频链路，各所述射频链路均包括多个焊点以及位于相邻焊点之间与焊点相连接的传输线；每一射频链路中均包括多条传输线，不同所述射频链路中至少一处对应的所述传输线的长度不同；其中，各所述射频链路中的所述焊点的数量相同，各所述射频链路中的所述传输线的数量相同；通过对各所述射频链路进行阻抗测试，得到各所述射频链路的阻抗-时间曲线；基于所述阻抗-时间曲线识别出各所述射频链路中的所述焊点及所述传输线，从而将各所述射频链路中的所述焊点一一对应设置，各所述射频链路中的所述传输线一一对应设置。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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