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龙图腾网恭喜北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所申请的专利用于可编程逻辑器件中可变位宽存储器的自动测试电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113886166B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111015082.3，技术领域涉及：G06F11/267；该发明授权用于可编程逻辑器件中可变位宽存储器的自动测试电路是由陈雷;刘亚泽;孙华波;孙健爽;王文锋;张玉;方鑫;伊经伟;李智;郭琨设计研发完成，并于2021-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于可编程逻辑器件中可变位宽存储器的自动测试电路在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于可编程逻辑中可变位宽存储器的自动测试电路，包括地址数据产生器、位宽选择器和可变位宽比较器；地址数据产生器用于自动产生15位顺序可自动翻转地址信号和数据、写使能信号，并传输给位宽选择器；位宽选择器接收到来自地址数据产生器的信号后，根据位宽选择情况对接收到的信号进行转换，并将转换后的信号传输至每一个待测存储器；可变位宽比较器用于接收来自待测存储器的输出数据信号，根据选择的位宽对信号进行转换，并将转换后的信号进行比较，得到测试结果后输出结果。本发明能够使用较少的电路结构，实现对可编程逻辑内嵌存储器的自动全遍历测试，并可根据存储器宽度选择适合的位宽进行测试，具备较高的测试效率和灵活性。

本发明授权用于可编程逻辑器件中可变位宽存储器的自动测试电路在权利要求书中公布了：1.一种用于可编程逻辑器件中可变位宽存储器的自动测试电路，其特征在于，包括地址数据产生器，位宽选择器和可变位宽比较器；地址数据产生器根据外部输入的时钟信号和复位信号，自动生成存储器测试所需信号并输出至位宽选择器；存储器测试所需信号包括1位的数据信号、1位的写使能信号和15位的地址信号；位宽选择器根据外部输入的选择信号选择与存储器位宽对应的地址信号、数据信号和写使能信号，并将选择后的地址信号、数据信号和写使能信号传输至待测存储器；可变位宽比较器根据外部输入的选择信号从待测存储器中读取与存储器位宽对应的数据信号，对数据信号进行处理并对所得处理结果进行比较，得到测试结果后进行输出；地址数据产生器的输入端口包括CLK输入端口和RST输入端口，分别用于输入时钟信号和复位信号；地址数据产生器的输出端口包括A[14:0]输出端口，WE’输出端口和DATA输出端口，分别用于输出地址信号、写使能信号和数据信号；地址数据产生器包括18个寄存器K4～K21、18个反相器K22～K39和15个多路器K40～K54；输入端口CLK连接寄存器K4的CLK端口；输入端口RST分别连接至寄存器K4～K21的RST端口；寄存器K4～K21的Q端口分别连接反相器K22～K39的输入端，寄存器K4～K18的Q端口同时分别连接多路器K40～K54的第一输入端；反相器K22～K39的输出端分别连接寄存器K4～K21的D端口，反相器K22～K36的输出端同时分别连接多路器K40～K54的第二输入端；多路器K40～K54的控制端口连接寄存器K21的Q端口；寄存器K4～K20的D端口分别连接寄存器K5～K21的CLK端口；多路器K40～K54的输出端口分别为输出端口A[14]～A[0]；寄存器K19的Q端口为输出端口WE’，寄存器K20的Q端口为输出端口DATA。

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