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龙图腾网恭喜乌斯特技术股份公司申请的专利纺织品亮度测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112272765B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201980030097.1，技术领域涉及：G01N21/898；该发明授权纺织品亮度测量系统是由佩曼·H·德库尔迪;K·A·赖恩哈特;大卫·麦卡利斯特设计研发完成，并于2019-05-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本纺织品亮度测量系统在说明书摘要公布了：一种不仅用于测量纺织品样品106的反射辐射而且用于测量荧光发射的装置100，其包括具有观察窗口108的展示子系统102。辐射子系统114具有可调辐射源120，用于将具有波长范围和强度的所需辐射122穿过观察窗口108引导朝向样品106，从而导致样品106产生荧光124。感测子系统126具有成像器130，用于捕获像素阵列中的反射辐射和荧光124。控制子系统132具有处理器136，用于控制展示子系统102、辐射子系统114和感测子系统126，以及产生包含关于样品106的反射辐射和荧光124的光谱信息和空间信息两者的反射辐射和荧光图像。

本发明授权纺织品亮度测量系统在权利要求书中公布了：1.一种用于测量纺织品样品106的反射辐射和荧光的装置100，该装置100包括：展示子系统102，其包括样品窗口108，辐射子系统114，其包括可调辐射源120，用于将具有波长范围和强度的所需辐射122穿过样品窗口108引导朝向样品106，感测子系统126，其包括成像器130，用于捕获像素408阵列中的反射辐射和荧光124，以及控制子系统132，其特征在于，所需辐射122使样品106产生反射辐射和荧光124，所述成像器130的每个像素408记录在像素位置处的所述反射辐射和荧光124的强度，以及所述控制子系统132包括处理器136，用于控制展示子系统102、辐射子系统114和感测子系统126，用于产生包含关于样品106的反射辐射和荧光124的光谱信息和空间信息两者的反射辐射图像和荧光图像400，以及用于将反射辐射和荧光图像400两者处理成亮度图像 其中：aλj是波长的荧光图像的加权因子，其中λmin＜λj＜λmax，j＝1，2，...，k，bλj是波长的反射辐射图像的加权因子，其中λmin＜λj＜λmax，j＝1，2，...，k，Biλj是样品106在一个或多个波长范围内的亮度图像，其中λmin＜λj＜λmax,j＝1,2,...,k,FIλj是样品106在一个或多个波长范围内的荧光图像，其中λmin＜λj＜λmax,j＝1,2,...,k,LIλj是样品106在一个或多个波长范围内的反射辐射图像，其中λmin＜λj＜λmax,j＝1,2,...,k,n是图像在水平方向上的空间点数，m是图像在垂直方向上的空间点数，以及ixy是在x和y坐标位置处的样品在波长λj的能级。

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