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龙图腾网恭喜中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所申请的专利一种基于线性函数的数据漂移校正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119397136B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411980002.1，技术领域涉及：G06F17/10；该发明授权一种基于线性函数的数据漂移校正方法及系统是由徐进力;胡梦颖;白金峰;杜雪苗;唐瑞玲;刘彬设计研发完成，并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于线性函数的数据漂移校正方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于线性函数的数据漂移校正方法及系统，涉及数据处理技术领域，包括：基于电感耦合等离子体光谱法获取待校正样品测定数据；根据所述待校正样品测定数据获取标准物质；利用所述标准物质构建标准曲线；根据所述标准物质利用所述标准曲线对所述待校正样品测定数据进行校正获取校准样品数据；根据所述校准样品数据进行检测获取漂移校正结果。本发明在构建一次标准曲线的条件下，在保证分析数据高精度、高准确度条件下，实现了大批次样品的测定，提高了工作效率。

本发明授权一种基于线性函数的数据漂移校正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于线性函数的数据漂移校正方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1、基于电感耦合等离子体光谱法获取待校正样品测定数据；S2、根据所述待校正样品测定数据获取标准物质；根据所述待校正样品测定数据获取标准物质包括：S2-1、利用所述待校正样品测定数据进行特征提取获取待校正样品测定数据特性；S2-2、根据所述待校正样品测定数据与对应历史待校正样品测定数据获取第一标准物质和第一标准物质特性；S2-3、判断所述待校正样品测定数据特性和所述第一标准物质特性是否一致，若是，则执行S2-4，否则，返回S2-2；S2-4、根据所述第一标准物质利用电感耦合等离子体光谱法进行测定获取第一标准物质数据的浓度范围；S2-5、利用所述待校正样品测定数据获得待校正样品测定数据的浓度范围；S2-6、判断所述第一标准物质数据的浓度范围是否全部覆盖所述待校正样品测定数据的浓度范围，若是，则将所述第一标准物质作为所述标准物质，否则，执行S2-2；S3、利用所述标准物质构建标准曲线；S4、根据所述标准物质利用所述标准曲线对所述待校正样品测定数据进行校正获取校准样品数据；根据所述标准物质利用所述标准曲线对所述待校正样品测定数据进行校正获取校准样品数据包括：S4-1、获取所述标准物质作为监控样品；S4-2、根据所述待校正样品测定数据利用预设顺序号插入所述监控样品依次进行测量和分析获取所述监控样品对应的第一分析数据和第二分析数据；S4-3、根据所述监控样品对应的第一分析数据和第二分析数据利用所述标准曲线获取第一标准监控样品数据和第二标准监控样品数据；S4-4、利用所述第一分析数据、所述第二分析数据、所述第一标准监控样品数据和所述第二标准监控样品数据获取数据偏差；S4-5、根据所述数据偏差利用线性校正函数对所述待校正样品测定数据进行校正获取所述校准样品数据；利用所述第一分析数据、所述第二分析数据、所述第一标准监控样品数据和所述第二标准监控样品数据获取数据偏差包括：S4-4-1、根据所述第一分析数据和所述第一标准监控样品数据获取第一数据偏差；S4-4-2、根据所述第二分析数据和所述第二标准监控样品数据获取第二数据偏差；S4-4-3、判断所述第一数据偏差和所述第二数据偏差是否均为正偏差，若是，则将所述第一数据偏差和所述第二数据偏差作为所述数据偏差，并直接执行S4-5，否则，执行S4-4-4；S4-4-4、判断所述第一数据偏差和所述第二数据偏差是否均为负偏差，若是，则将所述第一数据偏差和所述第二数据偏差作为所述数据偏差，并执行S4-5，否则，返回S4-2；根据所述数据偏差利用线性校正函数对所述待校正样品测定数据进行校正获取所述校准样品数据包括：S4-5-1、判断所述数据偏差是否为正偏差，若是，则获取递减函数作为线性校正函数，并执行S4-5-2，否则，获取递增函数作为线性校正函数，并执行S4-5-2；S4-5-2、利用所述待校正样品测定数据输入所述线性校正函数获取第一校正数据和第二校正数据；S4-5-3、根据所述第一校正数据和所述第二校正数据利用线性拟合构建待校正样品测定数据曲线；S4-5-3、利用所述待校正样品测定数据曲线和所述标准曲线获取曲线相对误差；S4-5-4、根据所述曲线相对误差与对应历史曲线相对误差获取曲线相对误差阈值；S4-5-5、判断所述曲线相对误差是否符合曲线相对误差阈值，若是，则将所述第一校正数据和所述第二校正数据作为校准样品数据，并直接执行S5，否则，返回S4-2；其中，所述递减函数为所述数据偏差为正偏差时的线性校正函数，所述递增函数为所述数据偏差为负偏差时的线性校正函数；所述递减函数M递增和所述递增函数M递减分别为： 其中，Ci为待校正样品测定数据，Ai为待校正样品测定数据的顺序号，K1、K2为经验系数，Ci1为监控样品对应的第一分析数据，Ci2为监控样品对应的第二分析数据，Ai1为监控样品对应的第一分析数据的顺序号，Ai2为监控样品对应的第二分析数据的顺序号，C认定为标准物质的认定值，M初步为待校正样品测定数据初步校正后的数据；S5、根据所述校准样品数据进行检测获取漂移校正结果；根据所述校准样品数据进行检测获取漂移校正结果包括：S5-1、根据所述校准样品数据和所述待校正样品测定数据获取校正数据偏差；S5-2、判断所述校正数据偏差与所述第一数据偏差和所述第二数据偏差是否均为正偏差，若是，则获取所述校准样品数据作为第一校正样品数据，否则，执行S5-3；S5-3、判断所述校正数据偏差与所述第一数据偏差和所述第二数据偏差是否均为负偏差，若是，则获取所述校准样品数据作为所述第一校正样品数据，否则，执行S5-4；S5-4、根据所述标准物质与对应历史标准物质获取标准物质的认定值；S5-5、判断所述第一校正样品数据与所述标准物质的认定值之间的差值是否符合目标阈值，若是，则获取所述第一校正样品数据作为所述漂移校正结果，否则，返回S4-2。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所，其通讯地址为：300000 天津市东丽区东丽湖华纳景湖花园5-2-201、5-2-202室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。