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龙图腾网恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司申请的专利芯片侧推测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119310320B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411766021.4，技术领域涉及：G01R1/067；该发明授权芯片侧推测试装置及方法是由赖俊生设计研发完成，并于2024-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片侧推测试装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种芯片侧推测试装置及方法，其中的装置包括：包括测试探针及设置在所述测试探针一侧的弹性支撑组件；其中，所述测试探针包括探针臂以及设置在所述探针臂端部的接触端，所述接触端与待检测芯片上的金属凸点的支撑柱接触导通；所述弹性支撑组件用于在所述接触端与所述支撑柱接触的过程中，受力变形并产生对所述探针臂的侧向推力；所述接触端在所述侧向推力的辅助作用下与所述支撑柱对接，以使所述待检测芯片与所述测试探针通过所述支撑柱进行信号传递。利用上述发明能够在不损伤焊料帽的情况下，完成对芯片的相关测试。

本发明授权芯片侧推测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片侧推测试装置，其特征在于，包括测试探针及设置在所述测试探针一侧的弹性支撑组件；其中，所述测试探针包括探针臂以及设置在所述探针臂端部的接触端，所述接触端与待检测芯片上的金属凸点的支撑柱接触导通；所述弹性支撑组件用于在所述接触端与所述支撑柱接触的过程中，受力变形并产生对所述探针臂的侧向推力；所述接触端在所述侧向推力的辅助作用下与所述支撑柱对接，以使所述待检测芯片与所述测试探针通过所述支撑柱进行信号传递；所述弹性支撑组件包括设置在所述探针臂上的连接部、设置在所述连接部下方的弹性变形部以及位于所述弹性变形部远离所述连接部一端的抵接部；其中，在所述测试探针下移过程中，所述抵接部预先与所述金属凸点下的芯片保护层接触限位，所述弹性变形部在所述连接部和所述抵接部的挤压下，向靠近所述芯片保护层上的支撑柱一侧产生变形。

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