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龙图腾网恭喜成都佰维存储科技有限公司申请的专利长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118969056B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411441576.1，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备是由孙成思;何瀚;王灿;杨霞设计研发完成，并于2024-10-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的顺序读写性能数据，预设测试时长大于或等于30天，计算所有顺序读写性能数据的中位数，并计算每一顺序读写性能数据与中位数的差值，基于所有差值绘制生成置信级图，基于置信级图与中位数确定所述待测存储器的测试结果，利用中位数可以有效反馈性能数据分布集中的趋势，通过置信级图的方式将各性能数据与中位数的差值直观展示出来，基于置信级图与中位数确定测试结果，能够有效地判断存储器的长时间性能的稳定性，从而实现可靠且有效的长时间性能测试。

本发明授权长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种长时间性能测试方法，其特征在于，包括步骤：基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的顺序读写性能数据，所述预设测试时长大于或等于30天；计算所有所述顺序读写性能数据的中位数，并计算每一所述顺序读写性能数据与所述中位数的差值；基于所有所述差值绘制生成置信级图；基于所述置信级图与所述中位数确定所述待测存储器的测试结果；所述基于所有所述差值绘制生成置信级图包括：对所述差值按照从小到大的顺序进行排序，得到排序后的差值；根据所述排序后的差值绘制生成第一置信级图；从所述排序后的差值中按序抽取预设比例的差值，得到等级数据；将所述等级数据绘制生成第二置信级图；根据所述第一置信级图与所述第二置信级图生成最终的置信级图；所述从所述排序后的差值中按序抽取预设比例的差值，得到等级数据包括：从所述排序后的差值中按序抽取第一预设比例的差值，得到第一等级数据；从所述排序后的差值中按序抽取第二预设比例的差值，得到第二等级数据；从所述排序后的差值中按序抽取第三预设比例的差值，得到第三等级数据；从所述排序后的差值中按序抽取第四预设比例的差值，得到第四等级数据；所述第一预设比例、所述第二预设比例、所述第三预设比例和所述第四预设比例依次减小；所述基于所述置信级图与所述中位数确定所述待测存储器的测试结果包括：从所述置信级图中获取所述第一等级数据对应的置信级；根据所述第一等级数据对应的置信级处的值，得到绝对误差；根据所述绝对误差与所述中位数进行计算，得到相对误差；判断所述相对误差是否小于预设阈值，若是，则确定所述待测存储器的测试结果为测试通过，若否，则确定所述待测存储器的测试结果为测试不通过。

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