恭喜武汉新芯集成电路股份有限公司杜艳强获国家专利权
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龙图腾网恭喜武汉新芯集成电路股份有限公司申请的专利校验码产生方法及存储器获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118796540B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411267340.0,技术领域涉及:G06F11/10;该发明授权校验码产生方法及存储器是由杜艳强设计研发完成,并于2024-09-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本校验码产生方法及存储器在说明书摘要公布了:本申请公开了一种校验码产生方法及存储器,该校验码产生方法先基于第一地址数据对应的且同步获取到的存储数据、编程数据,生成对应的校验码,再存储校验码至页缓冲器中与第二地址数据对应的存储空间,可以通过基于同步获取到的存储数据、编程数据生成对应的校验码,相较于基于异步获取到的存储数据、编程数据生成对应的校验码,减少了校验码的处理过程需要花费的时间,从而提高了校验码的处理效率。
本发明授权校验码产生方法及存储器在权利要求书中公布了:1.一种校验码产生方法,其特征在于,所述校验码产生方法包括:基于第一地址数据对应的且同步获取到的存储数据、编程数据,生成对应的校验码;存储校验码至页缓冲器中与第二地址数据对应的存储空间,其中,在存储校验码之前,第二地址数据与第一地址数据相同。
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