恭喜北京世维通科技股份有限公司马超获国家专利权
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龙图腾网恭喜北京世维通科技股份有限公司申请的专利一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115031931B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210690773.1，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法是由马超;杨成惠设计研发完成，并于2022-06-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法，光源向待测钛扩散直波导芯片输入光后，待测钛扩散直波导芯片输出的光束经偏振控制器调节分别得到TE模式和TM模式，利用光功率计分别测量TE模式和TM模式的光功率，能够得到待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗。以上方案中，通过在待测钛扩散直波导芯片和光功率计之间加入偏振控制器，调整偏振控制器达到对待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗测试，无需分别针对待测钛扩散直波导芯片的对接输出尾纤，简化了测试过程，节约了测试时间，而且无需受到输出尾纤与待测钛扩散直波导芯片耦合精度的影响，提高了测试结果的稳定性和准确性。
本发明授权一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，其特征在于，包括：光源，其输出端与待测钛扩散直波导芯片的输入端连接，所述光源向所述待测钛扩散直波导芯片输入光；偏振控制器，沿光传播方向设置于所述待测钛扩散直波导芯片的输出端之后，对所述待测钛扩散直波导芯片的输出光进行调节后输出TE模式和TM模式；光功率计，沿光传播方向设置于所述偏振控制器之后，接收TE模式和TM模式，并测量TE模式的光功率和TM模式的光功率；损耗计算模块，根据所述TE模式的光功率和所述TM模式的光功率，得到所述待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京世维通科技股份有限公司，其通讯地址为：100176 北京市大兴区经济开发区科谷一街8号院6号楼5层501-3(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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