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龙图腾网恭喜中国空间技术研究院申请的专利一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114119505B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111316044.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置是由张海明;李璇;唐章东;王征;张帅;王贺;纪维;高华兴;范壮壮;董浩威设计研发完成，并于2021-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域缺陷进行修复，得到第二图像；采用自适应阈值的分割算法对第一图像、第二图像进行缺陷检测，确定目标缺陷对应的像素。本申请实施例提供的检测芯片粘连区域缺陷的方法，所得检测结果准确、可靠。

本发明授权一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种检测芯片粘连区域缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域缺陷进行修复，得到第二图像；采用自适应阈值的分割算法对第一图像、第二图像进行缺陷检测，确定目标缺陷对应的像素；在所述对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像的步骤之前，所述方法还包括：对预设数量的图像样本进行预处理，得到第三图像；针对每个所述第三图像，基于模板匹配所述第三图像中的粘连区域位置，将匹配坐标转换为标签文件，并保存所述标签文件；基于标注后的各图像样本，训练目标检测模型；所述对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像的步骤，包括：采用高斯滤波滤除采集到的X射线图像中的高斯噪声，得到第四图像；采用中值滤波，滤除所述第四图像中的椒盐噪声，得到第一图像；所述采用自适应阈值的分割算法对第一图像、第二图像进行缺陷检测，确定目标缺陷对应的像素的步骤，包括：将第一图像和第二图像进行像素级差分处理，确定缺陷得分图；根据适应性阈值对图像进行分割，确定目标缺陷对应的像素。

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