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龙图腾网恭喜合肥欣奕华智能机器股份有限公司申请的专利一种根因分析方法、装置、电子设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113870045B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111070227.X，技术领域涉及：G06Q10/0639；该发明授权一种根因分析方法、装置、电子设备和介质是由高超;杜超;温栋梁;吴文兵设计研发完成，并于2021-09-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种根因分析方法、装置、电子设备和介质在说明书摘要公布了：本申请实施例提供了一种根因分析方法、装置、电子设备和介质，涉及制造业技术领域，用以提高根因分析的效率和准确率。该方法中，首先获取多个产品的缺陷信息；多个产品流经第一工艺中的多个设备；根据缺陷信息，确定多个产品中正样本和负样本的数目；确定流经多个设备中每个设备的产品中正样本和负样本的数目；根据流经多个设备的产品中正样本和负样本的数目，以及流经每个设备的产品中正样本和负样本的数目，得到多个设备的多个分组；其中，每个分组中包括第一小组和第二小组；确定多个分组中每个分组的概率值；将概率值从小到大排序，确定多个分组中概率值靠前的N个分组；N个分组中第一小组中的设备或第二小组中的设备为根因。

本发明授权一种根因分析方法、装置、电子设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种根因分析方法，其特征在于，包括：获取多个产品的缺陷信息；所述多个产品流经第一工艺中的多个设备；所述缺陷信息是根据所述产品的尺寸和所述产品出现缺陷的区域的尺寸确定的；根据所述缺陷信息，确定所述多个产品中正样本的数目和负样本的数目，并根据所述多个产品中正样本的数目和负样本的数目，确定所述多个产品中所述正样本的数目与总样本的数目的比值；其中，所述正样本是所述缺陷信息大于或等于第一阈值的样本，所述负样本是所述缺陷信息小于所述第一阈值的样本，所述总样本的数目为所述多个产品的总数目；确定流经所述多个设备中每个设备的产品中正样本的数目和负样本的数目，并根据所述多个设备中每个设备的产品中正样本的数目和负样本的数目，确定所述每个设备的产品中所述正样本的数目与所述总样本的数目的比值；确定所述每个设备的产品中所述正样本的数目与所述总样本的数目的比值均大于多个产品中所述正样本的数目与所述总样本的数目的比值与第二阈值的积；将所述多个设备中前i个设备划分为第一小组，第i+1个到第X个设备分为第二小组；X为所述多个设备的总数目，X为大于等于1的整数；i取遍从1到X-1之间的整数；确定所述多个分组中每个分组的概率值；所述概率值表示所述分组错误的概率；将所述概率值从小到大排序，确定所述多个分组中所述概率值靠前的N个分组；所述N个分组中第一小组中的设备或第二小组中的设备为根因。

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