恭喜比亚迪半导体股份有限公司雷磊获国家专利权
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龙图腾网恭喜比亚迪半导体股份有限公司申请的专利删除指纹断纹特征点的方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114612942B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202011344791.1,技术领域涉及:G06V40/12;该发明授权删除指纹断纹特征点的方法、装置、设备及介质是由雷磊;李振刚设计研发完成,并于2020-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本删除指纹断纹特征点的方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了:本申请公开了一种删除指纹断纹特征点的方法、装置、设备及介质。该方法包括:获取指纹图像;处理指纹图像得到特征点图像,特征点图像中的特征点包括指纹的断点和或分叉点;遍历断点和或分叉点,确定特征点图像中是否包含与指纹的断纹对应的特征点;若包含,删除与指纹的断纹对应的特征点。解决了删除指纹断纹时,确定的指纹断纹位置准确度低,导致正常指纹信息被误删的情况。
本发明授权删除指纹断纹特征点的方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了:1.一种删除指纹断纹特征点的方法,其特征在于,包括:获取指纹图像;处理所述指纹图像得到特征点图像,所述特征点图像中的特征点包括指纹的断点和或分叉点;遍历所述断点和或所述分叉点,确定所述特征点图像中是否包含与所述指纹的断纹对应的特征点;若包含,删除与所述指纹的断纹对应的特征点;所述确定所述特征点图像中是否包含与所述指纹的断纹对应的特征点,包括:以所述特征点图像中的任一个断点或分叉点为参考特征点,选取初始特征点集,所述初始特征点集包括三个相邻的所述特征点;判断所述初始特征点集中的三个所述特征点是否为疑似断纹对应的特征点;若是,选取新的特征点集,将所述新的特征点集确定为初始特征点集,重复上述判断所述初始特征点集中的三个所述特征点是否为疑似断纹对应的特征点的过程,直至确定疑似断纹对应的特征点数量大于或者等于数量阈值,确定所述特征点图像中包含与所述指纹的断纹对应的特征点。
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