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龙图腾网恭喜中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种显微角分辨透射光相位信息表征系统及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111624161B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010623578.8，技术领域涉及：G01N21/25；该发明授权一种显微角分辨透射光相位信息表征系统及其测量方法是由郝加明;李晓温;俞伟伟;文政绩;周子骥;刘锋设计研发完成，并于2020-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种显微角分辨透射光相位信息表征系统及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种显微角分辨透射光相位信息表征系统及其测量方法，该装置分为光路1和光路2，两条光路均具有显微功能，两个样品平台前的透镜为物镜，可当作傅里叶变换器件，实现样品发出光的角度与物镜焦平面上位置的对应关系；后端14波片、检偏器对光进行调制，最后透过透镜将光汇聚到像平面。本装置可同时测量样品微区域不同入射角度条件下透射光的强度和相位信息，即可获取透射光谱的全面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。

本发明授权一种显微角分辨透射光相位信息表征系统及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种显微角分辨透射光相位信息表征系统，包括：光源1、准直器2、起偏器3、第一偏振分束器4、第一反射镜5、第二反射镜6、第一聚光镜7、第一样品台8、第一物镜9、第一焦平面10、第二聚光镜11、第二样品台12、第二物镜13、第二焦平面14、第二偏振分束器15、14波片16、检偏器17、透镜18、像平面19、精密平移针孔20、光纤21、探测器22；其特征在于：从光源1出来的光首先经过准直器2与起偏器3，其次经过偏振分束器4，将光分为光路1与光路2两条光路；光路1的光经过两次反射镜后由第一聚光镜7照射在第一样品台8上，第一物镜9的焦平面为第一焦平面10，被测样品上同一透射角度的光经过第一物镜9汇聚在第一焦平面10同一点，之后进入第二偏振分束器15；光路2的光经过第二聚光镜11照射在第二样品台12上，第二物镜13的焦平面为第二焦平面14，标准样件上同一透射角度的光经过第二物镜13汇聚在第二焦平面14同一点，之后进入第二偏振分束器15，汇合后的两束光同时出射依次经过14波片16、检偏器17、透镜18，在像平面19处成像，像平面19上的位置与测试角度一一对应，通过移动精密平移针孔20接收不同入射角度的反射光信息，最后通过光纤21被探测器22接收。

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