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龙图腾网恭喜武汉大学申请的专利基于内存谱的失效根因隔离方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119201760B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411737217.0，技术领域涉及：G06F11/3668；该发明授权基于内存谱的失效根因隔离方法及装置是由谢晓园;宋壹;张熙灏;刘泉明设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于内存谱的失效根因隔离方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及计算机技术领域，特别涉及一种基于内存谱的失效根因隔离方法及装置，其中，方法包括：基于待测程序的可执行语句和测试用例集得到可执行语句的风险值，并基于满足一定风险条件的语句得到待测程序的至少一个断点；结合待测程序和失败测试用例集，获取待测程序在所有断点处的运行内存信息；基于运行内存信息得到每个失败测试用例对应的PMS和至少一对PMS对；将PMS对输入至训练后的孪生卷积神经网络中，以得到所有PMS对之间的相似性，并计算距离信息；进而确定待测程序的失效行为异同信息，基于失效行为异同信息隔离待测程序的失效根因。由此，解决了相关技术中，难以深层次地挖掘失效发生时程序的内部状态，难以被人类所直观理解等问题。

本发明授权基于内存谱的失效根因隔离方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于内存谱的失效根因隔离方法，其特征在于，包括以下步骤：基于待测程序的可执行语句和测试用例集得到所述可执行语句的风险值，选取所述风险值满足预设风险条件的可执行语句，以得到所述待测程序的风险执行语句，并基于所述风险执行语句得到所述待测程序的至少一个断点，其中，所述测试用例集包括失败测试用例集和成功测试用例集；结合所述待测程序和所述失败测试用例集，获取所述待测程序在所有断点处的运行内存信息；基于所述运行内存信息得到每个失败测试用例对应的内存谱PMS，并基于所述PMS得到所述失败测试用例集的至少一对PMS对；分别将所述PMS对输入至训练后的孪生卷积神经网络中，以得到所有PMS对之间的相似性，并基于所述相似性和目标公式计算所述所有PMS对之间的距离信息；根据所述距离信息和所述失败测试用例集确定所述待测程序的失效行为异同信息，基于所述失效行为异同信息隔离所述待测程序的失效根因。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉大学，其通讯地址为：430072 湖北省武汉市武昌珞珈山；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。