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龙图腾网恭喜圆周率科技(常州)有限公司申请的专利采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118984391B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411419340.8，技术领域涉及：H04N19/132；该发明授权采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质是由沈靖程;乔连伟设计研发完成，并于2024-10-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质在说明书摘要公布了：本公开涉及一种采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质。所述方法包括：获取惯性测量单元中所包含的每个传感器的目标采样率；响应于存在大于预设采样率阈值的目标采样率，确定大于预设采样率阈值的目标采样率相匹配的第一传感器；在硬件抽象层中确定控制第一传感器的采样率的第一采样逻辑，且在硬件抽象层中生成控制第一传感器的采样率的第二采样逻辑；基于大于预设采样率阈值的目标采样率的第一采样时间和第一采样速率，确定第一采样周期；根据目标采样率、采样率阈值、第一采样周期、第一采样逻辑、第二采样逻辑，调整第一传感器，得到目标采样结果。采用本方法能够获取更高采样率的IMU的数据。

本发明授权采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种采样率调整方法，其特征在于，所述方法包括：获取惯性测量单元中所包含的每个传感器的目标采样率，其中，所述目标采样率基于预设的第一采样时间和第一采样速率确定；响应于存在大于预设采样率阈值的目标采样率，确定大于预设采样率阈值的目标采样率相匹配的第一传感器；在硬件抽象层中确定控制所述第一传感器的采样率的第一采样逻辑，且在硬件抽象层中生成控制所述第一传感器的采样率的第二采样逻辑；其中，所述第一采样逻辑和第二采样逻辑是控制采样率的代码，所述第一采样逻辑为硬件抽象层中默认的控制采样率的代码；所述第一采样逻辑和第二采样逻辑不相同；基于大于预设采样率阈值的目标采样率的第一采样时间和第一采样速率，确定第一采样周期；根据所述目标采样率、所述采样率阈值、所述第一采样周期、所述第一采样逻辑、所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器，得到目标采样结果；所述第一采样逻辑的优先级高于所述第二采样逻辑；所述根据所述目标采样率、所述采样率阈值、所述第一采样周期、所述第一采样逻辑、所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器，得到目标采样结果，包括：根据所述目标采样率和所述采样率阈值的差值，调整利用所述第一采样逻辑得到的所述第一传感器的采样结果，得到目标采样结果；或者，屏蔽所述第一采样逻辑，根据所述第一采样周期和所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器的采样率，利用调整后的所述第一传感器的采样率，得到目标采样结果。

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