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龙图腾网恭喜深圳市伟疆创新科技有限公司申请的专利一种芯片监测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118731650B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410930641.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片监测方法、装置、设备及存储介质是由李秋盛设计研发完成，并于2024-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片监测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片监测的技术领域，提供了一种芯片监测方法、装置、设备及存储介质，包括采集芯片的电信号幅值、频率特征以及波形失真度；根据电信号幅值生成数字量化信号，基于数字量化信号对频率特征进行计算，得到频域特性数据；基于频域特性数据生成状态特征向量与故障指示向量；对状态特征向量进行处理，得到工作状态指数，对工作状态指数和故障指示向量进行结合分析，得到当前工作状态和潜在故障点，基于此对波形失真度进行异常检测，得到波形异常特征数据和故障根源分析结果并分析，得到故障预警信息和维护建议。通过上述方案对芯片进行监测，改善在复杂信号处理和故障诊断时，存在着分析精度不足和故障诊断能力有限的问题。

本发明授权一种芯片监测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片监测方法，其特征在于，包括：采集芯片的电信号幅值、频率特征以及波形失真度；将所述电信号幅值输入至模拟数字转换器，生成数字量化信号，基于所述数字量化信号对所述频率特征进行快速傅里叶变换计算，得到频域特性数据；将所述频域特性数据输入预设的电信号分析模型，生成状态特征向量与故障指示向量；将所述状态特征向量输入预设的多维度数据分析模型，在所述多维度数据分析模型中利用主成分分析对所述状态特征向量进行降维处理，得到降维后的主成分向量，并通过线性判别分析对所述降维后的主成分向量进行分类处理，得到分类结果和主成分分布图；根据所述主成分分布图对所述分类结果进行聚类分析，得到聚类中心和聚类密度，基于所述聚类中心对所述聚类密度进行分割处理，得到分类簇；将所述分类簇与所述故障指示向量进行关联分析，得到初步工作状态指数；基于预设的状态评估算法，利用所述分类结果和所述降维后的主成分向量对所述初步工作状态指数进行状态评估，得到精确工作状态指数；根据预设的状态评估参数对所述故障指示向量进行概率推断，得到故障类型概率；利用预设的匹配模型将所述精确工作状态指数与所述故障类型概率进行综合匹配，得到综合状态描述参数和故障位置参数，将所述综合状态描述参数作为当前工作状态，将所述故障位置参数作为潜在故障点；利用所述当前工作状态和所述潜在故障点对所述波形失真度进行异常检测，得到波形异常特征数据和故障根源分析结果；利用非线性回归模型对所述波形异常特征数据和故障根源分析结果分析，得到回归系数和预测曲线，对所述回归系数和所述预测曲线进行映射，得到故障预警信息和维护建议。

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