杭州微影软件有限公司徐伟获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州微影软件有限公司申请的专利电磁超声测厚仪探头及测厚仪获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222635442U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202420614370.3,技术领域涉及:G01B17/02;该实用新型电磁超声测厚仪探头及测厚仪是由徐伟;卢文义;闫科锋设计研发完成,并于2024-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本电磁超声测厚仪探头及测厚仪在说明书摘要公布了:本实用新型实施例公开电磁超声测厚仪探头及测厚仪,涉及尺寸测量设备技术领域,其柔性较好,便于适应磁体形状卷绕组装。包括:外壳,具有容纳腔;磁体,嵌设于所述容纳腔中;磁场屏蔽层,位于所述磁体的底部,磁场屏蔽层包括多层结构的柔性印制电路板,多层结构的柔性印制电路板中至少两层中的每层具有覆铜层;励磁线圈,位于所述磁场屏蔽层的下方。
本实用新型电磁超声测厚仪探头及测厚仪在权利要求书中公布了:1.一种电磁超声测厚仪探头,其特征在于,包括:外壳,具有容纳腔;磁体,嵌设于所述容纳腔中;磁场屏蔽层,位于所述磁体的底部,磁场屏蔽层包括多层结构的柔性印制电路板,多层结构的柔性印制电路板中至少两层中的每层具有覆铜层;励磁线圈,位于所述磁场屏蔽层的下方。
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