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龙图腾网恭喜中国科学院空天信息创新研究院申请的专利针对地表反射率产品的像元尺度地面真值获取方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114965375B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210404820.1，技术领域涉及：G01N21/55；该发明授权针对地表反射率产品的像元尺度地面真值获取方法和装置是由高海亮;王艺学;顾行发;程天海设计研发完成，并于2022-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本针对地表反射率产品的像元尺度地面真值获取方法和装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种针对地表反射率产品的像元尺度地面真值获取方法和装置，所述方法包括：基于目标场地的场地大小，确定目标场地的采样方式，采样方式包括二级采样方式和端元测量方式；在确定采样方式为二级采样方式的情况下，对目标场地中基本采样单元进行地物光谱测量，生成目标场地对应的像元尺度下的地表反射率；在确定采样方式为端元测量方式的情况下，分别对目标场地中各种地物区域进行地物光谱测量，生成目标场地对应的像元尺度下的地表反射率；基于目标场地对应的像元尺度下的地表反射率，生成目标场地对应的卫星像元尺度地表反射率。本发明的针对地表反射率产品的像元尺度地面真值获取方法，可以显著提高所获取的真值的精确度以及准确性。

本发明授权针对地表反射率产品的像元尺度地面真值获取方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种针对地表反射率产品的像元尺度地面真值获取方法，其特征在于，包括：基于目标场地的场地大小，确定所述目标场地的采样方式，所述采样方式包括二级采样方式和端元测量方式；在确定所述采样方式为所述二级采样方式的情况下，对所述目标场地中基本采样单元进行地物光谱测量，生成所述目标场地对应的像元尺度下的地表反射率；在确定所述采样方式为所述端元测量方式的情况下，分别对所述目标场地中各种地物区域进行地物光谱测量，生成所述目标场地对应的像元尺度下的地表反射率；基于所述目标场地对应的像元尺度下的地表反射率，生成所述目标场地对应的卫星像元尺度地表反射率；其中，所述对所述目标场地中基本采样单元进行地物光谱测量，生成所述目标场地对应的像元尺度下的地表反射率，包括：获取所述目标场地中的多个采样点；采用模拟退火算法基于所述多个采样点确定所述基本采样单元；对标准参考板进行地物光谱测量，获取标准DN值光谱曲线；对所述基本采样单元进行地物光谱测量，获取实际DN值光谱曲线；基于所述实际DN值光谱曲线、所述标准DN值光谱曲线以及所述标准参考板在目标太阳照射角度下垂直观测的绝对反射率，生成所述目标场地对应的像元尺度下的地表反射率；或者，对目标地物区域进行多次地物光谱测量，获取多个第一地表反射率；对所述多个第一地表反射率取平均值，生成所述目标地物区域对应的平均光谱；基于所述目标地物区域对应的平均光谱和所述目标地物区域的面积占所述目标场地的比例，生成所述目标场地对应的像元尺度下的地表反射率；其中，所述基于目标场地的场地大小，确定所述目标场地的采样方式，包括：基于待验证卫星的空间分辨率，确定所述目标场地的所述场地大小；在所述场地大小为第一目标大小且场地包括一种地物的情况下，确定所述目标场地的采样方式为所述二级采样方式；在所述场地大小为第一目标大小且场地包括多种地物的情况下，确定所述目标场地的采样方式为所述端元测量方式；在所述场地大小为第二目标大小的情况下，确定所述目标场地的采样方式为所述二级采样方式；其中，所述第一目标大小小于所述第二目标大小。

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