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龙图腾网恭喜杭州远方光电信息股份有限公司申请的专利一种基于畸变校正的指纹识别方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114612944B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210235256.5，技术领域涉及：G06V40/12；该发明授权一种基于畸变校正的指纹识别方法是由毛之江;潘正元设计研发完成，并于2022-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于畸变校正的指纹识别方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于畸变校正的指纹识别方法，通过建立指纹畸变模型，计算指纹特征图像的畸变参数，进而校正畸变指纹特征图像，实现指纹匹配度分析，有效解决了现有技术中由于按压不均匀产生指纹图像畸变，造成指纹特征点发生偏移，进而导致指纹匹配效果差的技术问题，大大提高后续指纹匹配性能的同时也保证了指纹匹配的准确度。

本发明授权一种基于畸变校正的指纹识别方法在权利要求书中公布了：1.一种基于畸变校正的指纹识别方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取并预存标准指纹特征模板A的信息，所述标准指纹特征A具有m个指纹特征点，每个特征点信息包含有坐标值和方向值；S2：采集指纹特征B的信息，指纹特征B具有n个指纹特征点，每个特征点信息包含有坐标值和方向值；S3：在给定的指纹图像区域内，设置受力点参数，并建立指纹畸变校正模型：具体包括：S3.1：在给定的指纹图像区域内预设R个受力点，每个受力点包括4个参数，即xr,yr,Cr，Dr，其中xr和yr为第r个受力点的位置坐标，Cr和Dr分别为水平方向受力分量和垂直方向受力分量，r∈[1，R]；S3.2：计算各个预设受力点对采集指纹特征B中的指纹特征点产生的畸变参数，即采集指纹特征B中第j个指纹特征点在第r个受力点的影响下产生的畸变校正参数Δxj,r和Δyj,r，j∈[1，n]，r∈[1，R]；S3.3：利用畸变校正参数对于采集指纹特征B中的指纹特征点进行畸变校正，其中，第j个指纹特征点的总畸变校正参数为各个受力点畸变校正参数之和，即S4：根据畸变校正模型对于指纹特征B的指纹特征点进行校正，比较标准指纹特征模板A和经过畸变校正的指纹特征B，实现指纹匹配度分析。

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