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龙图腾网恭喜中国地质大学(武汉)申请的专利一种基于测量Dpar值的物源分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114813728B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210181472.6，技术领域涉及：G01N21/84；该发明授权一种基于测量Dpar值的物源分析方法是由付红杨;沈传波;史冠中;曾小伟;杨超群设计研发完成，并于2022-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于测量Dpar值的物源分析方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于测量Dpar值的物源分析方法。通过测量沉积区和源区样品的裂变径迹Dpar值；然后采用多维尺度分析法对得到的Dpar值进行分组，得到分组数据，以Dpar值为参数，匹配沉积区和源区具有相同Dpar值特征的分组数据构建沉积区‑源区耦合模型，就可以精确圈定物源区及其岩石类型、确定沉积物来源，使得物源分析更加精确可信。而且本发明的物源分析方法仅需测定样品的Dpar值就可以准确得到物源分析结果，在测量Dpar值过程中无需对样品进行热中子辐照，得到Dpar值耗时短，有效解决了传统测定裂变径迹年龄进行物源分析过程中需将分析样品送往原子核反应堆进行热中子辐照或辐照耗时长且有放射性的缺陷。

本发明授权一种基于测量Dpar值的物源分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于测量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、采集沉积区和源区样品，所述样品包括沉积物中挑选出的磷灰石矿物；S2、测量步骤S1得到的样品的Dpar值；S3、实施数据分析；采用多维尺度分析法对步骤S2得到的Dpar值进行分组，得到分组数据，以Dpar值为参数，匹配沉积区和源区具有相同Dpar值特征的分组数据构建沉积区-源区耦合模型，得到物源分析结果；测量磷灰石样品的Dpar值的具体过程包括以下步骤：S11、制靶：用含环氧树脂的溶液调胶，将磷灰石颗粒均匀撒在模具底部，室温下凝固；S12、抛光：依次使用800#、1200#、2400#的砂纸和不同粒径的金刚砂进行抛光；S13、硝酸蚀刻：配制5.5±0.1molL的硝酸蚀刻液，控制硝酸蚀刻液温度为21±1℃，将步骤S12得到的磷灰石样品浸入硝酸蚀刻液中20±1s后取出并洗净；使用ZEISSAxioImager显微镜观察统计单个磷灰石颗粒的裂变径迹蚀刻坑图形；S14、Dpar长度测量：使用ZEISSAxioImager显微镜观察步骤S13得到的蚀刻样品，统计单个磷灰石颗粒的裂变径迹的裂变径迹蚀刻坑图形，测量裂变径迹蚀刻坑的最大直径，即Dpar长度；所述Dpar长度为与磷灰石结晶C轴平行的、与抛光面相交的裂变径迹蚀刻坑的最大直径；S15、计算：将步骤S14得到的所有Dpar长度数据算术平均，得到Dpar值。

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