恭喜松山湖材料实验室刘科海获国家专利权
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龙图腾网恭喜松山湖材料实验室申请的专利纳米薄膜疲劳性能测试方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112730118B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011644432.8，技术领域涉及：G01N3/36；该发明授权纳米薄膜疲劳性能测试方法和装置是由刘科海;张超;杨方友;杨秀华;陈益;刘开辉;王恩哥设计研发完成，并于2020-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本纳米薄膜疲劳性能测试方法和装置在说明书摘要公布了：本申请公开一种纳米薄膜疲劳性能测试方法和装置。纳米薄膜疲劳性能测试方法包括以下步骤：提供检测环境；检测环境包括压力恒定为第一数值的第一环境和压力可调的第二环境；提供测试样本；将第一纳米薄膜设置在第一环境和第二环境之间，以使第一纳米薄膜两侧受第一环境和第二环境的压差作用；数据获取；调节第二环境的压力，使得第二环境的压力在第二数值和第三数值之间周期性地切换，并记录切换次数，直至第一纳米薄膜破裂。本申请提供的技术方案能够测试纳米薄膜的疲劳性能。
本发明授权纳米薄膜疲劳性能测试方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种纳米薄膜疲劳性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：提供检测环境：所述检测环境包括压力恒定为第一数值的第一环境和压力可调的第二环境；提供测试样本：将第一纳米薄膜悬空地设置在所述第一环境和所述第二环境之间，使所述第一纳米薄膜两侧受所述第一环境和所述第二环境的压差作用；以及数据获取：调节所述第二环境的压力，使得所述第二环境的压力在第二数值和第三数值之间周期性地切换，并记录切换次数，直至所述第一纳米薄膜破裂，所述第一数值等于第三数值，所述第一数值等于大气压力值，所述第二数值小于第一数值。
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