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龙图腾网恭喜悦芯科技股份有限公司申请的专利集成电路芯片测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN110456257B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910850832.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权集成电路芯片测试系统及方法是由张悦设计研发完成，并于2019-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路芯片测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种集成电路芯片测试系统及方法，涉及集成电路芯片测试技术领域。该系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，第一测试设备、采集设备、存储设备和第二测试设备之间依次电连接，且计算设备分别与第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备电连接；计算设备用于对第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备进行控制，采集设备在第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对预设集成电路芯片的运行信号，并将运行信号存储至存储设备；第二测试设备从存储设备获取运行信号，并基于运行信号对待测集成电路芯片进行测试。本公开能够提高测试待测集成电路芯片的准确性。

本发明授权集成电路芯片测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路芯片测试系统，其特征在于，所述集成电路芯片测试系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，所述第一测试设备、所述采集设备、所述存储设备和所述第二测试设备之间依次电连接，且所述计算设备分别与所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备电连接；所述计算设备用于根据针对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备的控制指令，分别对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备进行控制；所述采集设备在所述第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对所述预设集成电路芯片的运行信号，并将所述运行信号存储至所述存储设备；所述第二测试设备从所述存储设备获取所述运行信号，并基于所述运行信号对待测集成电路芯片进行测试，所述预设集成电路芯片与所述待测集成电路芯片的芯片类型相同；所述集成电路芯片测试系统还包括接入器，所述接入器包括与所述预设集成电路芯片电连接的第一接口、与所述第一测试设备电连接的第二接口以及与所述采集设备电连接的第三接口；所述接入器通过所述第一接口和所述第二接口获取所述运行信号，通过所述第三接口将所述运行信号发送给所述采集设备；所述接入器还包括信号放大器，所述信号放大器与所述第三接口电连接；所述接入器通过所述信号放大器将所述运行信号进行放大，并将放大后的所述运行信号通过所述第三接口发送给所述采集设备；所述采集设备包括第四接口、数模转换器、多路开关、时序控制器、同步控制器、第五接口和第六接口，所述第四接口、所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述第六接口依次电连接，所述同步控制器分别与所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述第五接口电连接；所述采集设备通过所述第五接口接收所述计算设备的同步控制指令，并通过所述同步控制器对所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器进行时序同步，且所述采集设备还通过所述第四接口接收所述运行信号，通过所述数模转换器将所述运行信号由数字信号转换为模拟信号，通过所述多路开关将转换后的所述运行信号传输至所述时序控制器，通过所述时序控制器对转换后的所述运行信号进行压缩，通过所述第六接口将压缩后的所述运行信号发送给所述存储设备。

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