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龙图腾网恭喜广东志慧芯屏科技有限公司申请的专利一种柔性电子器件电能势垒控制智能调控方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119578188B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510138405.X，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权一种柔性电子器件电能势垒控制智能调控方法是由吴汝健设计研发完成，并于2025-02-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种柔性电子器件电能势垒控制智能调控方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种柔性电子器件电能势垒控制智能调控方法，包括通过建立数学模型和有限元仿真，结合机器学习算法和第一性原理计算，对射线辐照下器件势垒参数的精确调控，本发明方法包括建立势垒调控模型、分析测试数据、研究辐照诱导缺陷、在线检测内部参数、筛选抗辐照材料和优化器件结构，以及建立器件失效机理模型，本发明有效提升器件在辐照环境中的长期可靠性，解决射线辐照引入的缺陷和性能退化问题，为柔性电子器件的发展提供新的技术路径。

本发明授权一种柔性电子器件电能势垒控制智能调控方法在权利要求书中公布了：1.一种柔性电子器件电能势垒控制智能调控方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、根据柔性电子器件的材料特性和器件结构，建立势垒调控的数学模型，采用有限元分析方法对势垒区域进行精细化仿真，获取器件结构参数与器件性能之间的定量关系模型，所述器件结构参数包括势垒高度和势垒宽度，通过向量机算法对定量关系模型进行训练，得到优化后的势垒高度和势垒宽度；S2、利用数学模型和仿真结果，通过机器学习算法对步骤S1获得的优化后的势垒高度和势垒宽度进行挖掘分析，建立输入为射线能量、剂量、入射角度辐照参数，输出为器件性能退化量化指标的关联模型，评估射线辐照对器件性能退化量化指标的影响；S3、基于步骤S2的关联模型，针对射线辐照引起的材料结构和化学成分改变，采用第一性原理计算和分子动力学模拟方法，获得缺陷态在禁带中的位置、浓度分布以及对势垒高度和宽度的影响；S4、根据步骤S3的计算与模拟，在射线辐照过程中，通过电容-电压测量、深能级瞬态谱检测手段对器件的内部势垒参数进行在线检测，用于射线辐照过程的控制和势垒参数的实时反馈调节；S5、根据步骤S3的计算与模拟，采用势垒调控材料体系，采用第一性原理计算筛选势垒层材料，利用原子层沉积、分子束外延技术，控制势垒层的组分和厚度，获得筛选后的器件结构，筛选后的器件结构用于抑制辐照诱导缺陷的形成；S6、对筛选后的器件结构进行测试，通过正交试验对辐照剂量、辐照时间、退火温度的技术参数组合调控，并建立势垒特性与调控参数之间的映射关系，用于势垒参数的调控和器件性能的协同优化；S7、根据步骤S3的计算与模拟，建立器件失效机理模型，通过建立多物理场耦合模型，分析不同应力因素对器件性能的影响权重，采用加速寿命试验和大数据分析方法，用于记录器件的性能退化数据，包括漏电流、击穿电压。

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