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龙图腾网恭喜深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种含电路区的显示屏图像的处理方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119251219B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411765009.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种含电路区的显示屏图像的处理方法、装置及存储介质是由施冬冬;杨硕;张滨;邱海滨设计研发完成，并于2024-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种含电路区的显示屏图像的处理方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种含电路区的显示屏图像的处理方法、装置及存储介质，用于提高含电路区的显示屏图像的屏体缺陷检测精度。对待测显示屏进行拍摄，生成显示屏图像；生成电路区外观图像、显示区外观图像和边界区外观图像；生成限样屏电路区外观图像；对电路区外观图像和限样屏电路区外观图像进行降采样，生成第一和第二压缩图像；生成灰度形态学结构核算子；为第一和第二压缩图像进行底帽运算、形态学膨胀和算数运算、阈值分析处理和上采样扩大处理，生成目标电路区外观图像；对显示区外观图像进行自适应强调滤波算法处理，生成目标显示区外观图像；目标电路区外观图像、目标显示区外观图像和边界区外观图像进行缺陷检测，输出缺陷分析结果。

本发明授权一种含电路区的显示屏图像的处理方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种含电路区的显示屏图像的处理方法，其特征在于，包括：开启光源，通过工业线扫相机对待测显示屏进行拍摄，生成显示屏图像，所述待测显示屏内含电路结构；对所述显示屏图像进行区域纹理结构划分，生成电路区外观图像、显示区外观图像和边界区外观图像；选取一块标准限样屏，并对所述标准限样屏进行拍摄，生成限样屏电路区外观图像，所述标准限样屏与所述待测显示屏为同类型显示屏，所述标准限样屏为无缺陷显示屏；对所述电路区外观图像和所述限样屏电路区外观图像进行降采样，生成第一压缩图像和第二压缩图像；根据所述电路区外观图像对应的屏体检测缺陷生成灰度形态学结构核算子；根据所述灰度形态学结构核算子为所述第一压缩图像和所述第二压缩图像分别进行底帽算法；将进行了底帽算法后的所述第一压缩图像和所述第二压缩图像进行形态学膨胀和算数运算得到结果图像；对所述结果图像进行阈值分析处理和上采样扩大处理，生成目标电路区外观图像；对所述显示区外观图像构造自适应核因子进行强调滤波算法，生成目标显示区外观图像；对所述目标电路区外观图像、所述目标显示区外观图像和所述边界区外观图像进行缺陷检测，输出缺陷分析结果。

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