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龙图腾网恭喜上海赢朔电子科技股份有限公司申请的专利一种转盘式高温测试机构的区间温度控制方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119200710B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411710442.5，技术领域涉及：G05D23/20；该发明授权一种转盘式高温测试机构的区间温度控制方法及系统是由朱晓玲;艾兵;张烨超设计研发完成，并于2024-11-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种转盘式高温测试机构的区间温度控制方法及系统在说明书摘要公布了：本申请涉及芯片测试的技术领域，公开一种转盘式高温测试机构的区间温度控制方法及系统，方法包括：获取位于芯片测试站前第一测温点的第一温度值；获取位于芯片测试站后第二测温点的第二温度值；判断第二温度值是否低于设定的第一温度阈值，若低于，则为无效测试，进行预警；若不低于，计算第一温度值与第二温度值的差值为第一温度差值；若第一温度差值大于设定阈值，则为有效测试；若第一温度差值小于等于设定阈值，则为无效测试，进行预警；计算第一温度差值在第一设定时间段内的第一平均值；如果第一平均值超过设定第一平均阈值，则根据第一平均值正相关调节加热盘的加热温度。本申请使得芯片前后温度都可控，提高了芯片测试的准确度。

本发明授权一种转盘式高温测试机构的区间温度控制方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种转盘式高温测试机构的区间温度控制方法，其特征在于，包括如下步骤：获取位于芯片测试站1前第一设定距离处第一测温点2的第一温度值；获取位于芯片测试站1后第二设定距离处第二测温点3的第二温度值；判断所述第二温度值是否低于设定的第一温度阈值，若所述第二温度值低于设定的第一温度阈值，则判断芯片测试站1当前的测试为无效测试，进行预警；若所述第二温度值不低于设定的第一温度阈值，计算所述第一温度值与所述第二温度值的差值为第一温度差值；若所述第一温度差值大于设定阈值，则判断为芯片测试站1当前的测试为有效测试；若所述第一温度差值小于等于所述设定阈值，则判断芯片测试站1当前的测试为无效测试，进行预警；计算所述第一温度差值在第一设定时间段内的第一平均值；如果所述第一平均值超过设定的第一平均阈值，则根据所述第一平均值调节加热盘5的加热温度；所述第一平均值越大，所述加热盘5的加热温度增加的温度越多；所述第一平均值越小，所述加热盘5的加热温度增加的温度越少。

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