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龙图腾网恭喜江苏晋成半导体有限公司申请的专利一种探针卡全自动测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119281667B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411534267.9，技术领域涉及：B07C5/02；该发明授权一种探针卡全自动测试系统及测试方法是由曹永焕;金光哲;朱春月;崔相弦设计研发完成，并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种探针卡全自动测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及探针卡测试技术领域，具体公开了一种探针卡全自动测试系统及测试方法，包括测试箱，所述测试箱的内部固定设置有输送架，且输送架的左右侧贯穿测试箱的左右侧，所述测试箱内部的后方还固定设置有出料架，且出料架的一侧延伸至测试箱的后方。通过对每个探针卡的测试参数进行同步记录，为后续的质量分析提供了详细的数据支持，在测试前对探针卡的表面质量进行检查，能够及时剔除有缺陷的探针卡，避免对这些不良品进行无效的测试处理，对于批量生产的探针卡，这种预先筛选的方式可以大大提高整体的测试效率，不仅节省了测试时间，还提高了测试资源的利用率，减少了设备的运行时间和能量消耗，降低了运行成本。

本发明授权一种探针卡全自动测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种探针卡全自动测试系统，其特征在于，包括：测试箱（1），所述测试箱（1）的内部固定设置有输送架（2），且输送架（2）的左右侧贯穿测试箱（1）的左右侧，所述测试箱（1）内部的后方还固定设置有出料架（29），且出料架（29）的一侧延伸至测试箱（1）的后方；固定架（7），所述测试箱（1）内壁的左侧固定设置有固定架（7），且固定架（7）内部的右侧转动设置有测试架（8），所述测试架（8）的右侧固定设置有上料架（9），所述测试箱（1）内壁的右侧还固定设置有连接架（10），且上料架（9）的右侧与连接架（10）的内部转动连接，所述上料架（9）的表面设置有若干个上料组件，所述固定架（7）的左侧固定设置有驱动电机（20），且驱动电机（20）的输出轴与测试架（8）的内部固定连接；所述上料组件包括活动架（12）和滑动架（14），所述上料架（9）的内部固定设置有若干个伺服电缸一（11），且若干个伺服电缸一（11）的驱动端均固定设置有活动架（12），所述活动架（12）的内部固定设置有电动滑台一（13），且电动滑台一（13）的顶部滑动设置有滑动架（14），所述滑动架（14）的内部设置有定位槽（15），且定位槽（15）内部的两侧均通过微型电缸活动设置有定位夹板（16）；支撑架（21），所述测试箱（1）内部的右侧且位于上料架（9）的下方还固定设置有支撑架（21），所述支撑架（21）顶部的一侧设置有预处理组件，支撑架（21）顶部的另一侧设置有下料组件。

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