加特兰微电子科技(上海)有限公司王祖德获国家专利权
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龙图腾网获悉加特兰微电子科技(上海)有限公司申请的专利射频芯片测试方法及测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115549815B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211203707.3，技术领域涉及：H04B17/10；该发明授权射频芯片测试方法及测试系统是由王祖德;盛伯瑶设计研发完成，并于2022-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本射频芯片测试方法及测试系统在说明书摘要公布了：本公开实施例提供了一种射频芯片测试方法及测试系统，所述射频芯片测试方法，包括：在测试通路中设置用于对待测射频芯片发射或接收的射频信号进行补偿的可调电路；为所述可调电路配置调节信息，根据所述调节信息调整所述可调电路的电路参数，所述调节信息根据测试环境设置以使所述可调电路对所述测试通路上的射频信号进行补偿；所述可调电路调整完成后，将所述待测射频芯片与调整好的所述测试通路连接并进行测试。
本发明授权射频芯片测试方法及测试系统在权利要求书中公布了：1.一种射频芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：在测试通路中设置用于对待测射频芯片发射或接收的射频信号进行补偿的可调电路；为所述可调电路配置调节信息，根据所述调节信息调整所述可调电路的电路参数，所述调节信息根据测试环境设置以使所述可调电路对所述测试通路上的射频信号进行补偿；所述可调电路调整完成后，将所述待测射频芯片与调整好的所述测试通路连接，并对所述待测射频芯片的发射机进行测试，或对所述待测射频芯片的接收机进行测试；其中，所述调节信息采用以下方式得到：预设一用于发射或接收射频信号的辅助装置，将所述辅助装置与所述测试通路连接，所述测试通路中设置有所述可调电路；通过调节位于所述测试通路中的所述可调电路的电路参数使得所述测试通路信号接收端的射频信号满足预设要求，记录此时所述可调电路的电路参数作为调节信息。
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