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龙图腾网恭喜上海安路信息科技股份有限公司申请的专利应用于FPGA的失效定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115048248B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210502701.X，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权应用于FPGA的失效定位方法是由郑赫男;袁智皓设计研发完成，并于2022-05-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本应用于FPGA的失效定位方法在说明书摘要公布了：本发明公开了应用于FPGA的失效定位方法。该方法通过根据被测芯片的底层物理网表和原始代码，确定用于失效分析的代码块范围；对所述代码块范围对应的底层电路进行二次布线操作，将所述底层电路的多个fabric电路的中间节点数据引出到芯片外；根据所述中间节点数据分析所述底层物理网表，生成以代码块为单位的多套测试集，每套测试集包括多个测试pattern；根据所述多个测试集对被测芯片进行实测，并收集失效信息；根据所述失效信息，定位至芯片失效的物理位置。本发明技术方案通过保留原始物理网表和复现失效，实现了缩小失效范围和精确定位失效位置。

本发明授权应用于FPGA的失效定位方法在权利要求书中公布了：1.应用于FPGA的失效定位方法，其特征在于，包括以下步骤：根据被测芯片的底层物理网表和原始代码，确定用于失效分析的代码块范围；对所述代码块范围对应的底层电路进行二次布线操作，将所述底层电路的多个fabric电路的中间节点数据引出到芯片外；其中，获取被测芯片的空闲的输出IO资源和空闲的fabric电路；针对所述代码块范围中的第一代码块，逐个分析所述第一代码块在所述底层物理网表中所使用的资源，得到所述第一代码块的一个或多个资源输出口；每次将一个所述第一代码块的资源输出口连接至所述空闲的fabric电路上，并通过所述空闲的fabric电路连接到所述空闲的输出io资源上；根据所述中间节点数据分析所述底层物理网表，生成以代码块为单位的多套测试集，每套测试集包括多个测试pattern；根据所述多个测试集对被测芯片进行实测，并收集失效信息；根据所述失效信息，定位至芯片失效的物理位置。

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