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龙图腾网获悉上海聚栋半导体有限公司申请的专利一次开启式上电检测电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114461463B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111666691.5，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一次开启式上电检测电路是由胡容铭;索鑫;马松;宋霜设计研发完成，并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一次开启式上电检测电路在说明书摘要公布了：本发明属于集成电路技术领域，具体涉及一种上电检测电路。一种一次开启式上电检测电路，包括一电压检测电路，具有供电电源端和上电复位信号端；电压检测电路还包括：一比较器，同相输入端经第一电阻连接供电电源端，反向输入端连接检测点电压端，输出端为上电复位信号端，控制端连接上电初始化信号端；一第一MOSFET管，栅极连接上电初始化信号端，漏极经第二电阻连接第一电阻，源极接地。本发明可以在芯片初始化工作完成后，将电压检测电路进入低功耗模式，避免了电压检测电路的静态功耗。

本发明授权一次开启式上电检测电路在权利要求书中公布了：1.一种一次开启式上电检测电路，包括一电压检测电路，具有供电电源端和上电复位信号端；其特征在于，所述电压检测电路还包括：一比较器，同相输入端经第一电阻连接所述供电电源端，反向输入端连接检测点电压端，输出端为所述上电复位信号端，控制端连接上电初始化信号端；一第一MOSFET管，栅极连接所述上电初始化信号端，漏极经第二电阻连接所述第一电阻，源极接地；一延时器，输入端连接所述比较器的输出端，所述延时器的延时时间不小于芯片的初始化工作时间；一触发器，时钟输入端连接所述延时器的输出端，信号输入端接地，信号输出端为所述上电初始化信号端；当芯片上电后，所述上电初始化信号端输入的上电初始化信号为高电平，所述电压检测电路进入工作模式，当：VDDVref*R2+R1R2时，所述上电复位信号端翻转，所述芯片开始初始化工作；其中，VDD表示所述供电电源端电压，Vref表示所述检测点电压端输入的检测点电压，R1表示所述第一电阻，R2表示所述第二电阻；当芯片初始化工作完成后，所述上电初始化信号端输入的上电初始化信号为低电平，所述电压检测电路进入低功耗模式。

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