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恭喜北京科技大学彭开香获国家专利权

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龙图腾网恭喜北京科技大学申请的专利一种基于重验证检测的PCB板缺陷检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114387230B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111632258.X,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种基于重验证检测的PCB板缺陷检测方法是由彭开香;汪倩;马亮设计研发完成,并于2021-12-28向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于重验证检测的PCB板缺陷检测方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于重验证检测的PCB板缺陷检测方法,包括:采集PCB板图像,构建训练集和测试集;在SSD中引用MobileNet,对SSD进行改进,并利用训练集对改进后的网络进行训练,得到PCB板缺陷检测模型;对测试集中的PCB板图像进行一级检测;对一级检测检测出的有缺陷样本进行二级检测;根据一级检测和二级检测的检测结果对检测阈值进行自适应调整,在循环训练中,以误差作为负反馈,构成模型训练的自适应优化闭环反馈,增加二级检测和一级检测结果不一致的训练权重,最终在误差收敛时得到最优检测模型,利用其实现缺陷检测。本发明可准确检测PCB板缺陷,且防止过拟合现象发生。

本发明授权一种基于重验证检测的PCB板缺陷检测方法在权利要求书中公布了:1.一种基于重验证检测的PCB板缺陷检测方法,其特征在于,包括:采集PCB板图像,对采集的PCB板图像进行预处理,并对预处理后的PCB板图像进行预设类型的缺陷标注,构建原始图像集;对所述原始图像集进行数据增广,得到增广后的图像集,并将增广后的图像集划分为训练集和测试集;在SSD网络中引用MobileNet网络结构,对SSD网络进行改进,并利用所述训练集对改进后的网络进行训练,得到PCB板缺陷检测模型;基于所述PCB板缺陷检测模型对测试集中的PCB板图像进行一级检测;基于PCB板缺陷检测模型,对一级检测检测出的有缺陷样本进行二级检测;根据一级检测和二级检测的检测结果对检测阈值进行自适应调整,在循环训练中,以误差作为负反馈,构成模型训练的自适应优化闭环反馈,增加二级检测和一级检测结果不一致的训练权重,最终在误差收敛时得到最优检测模型;基于最优检测模型,根据待检测PCB板图像对待检测PCB板进行缺陷检测;所述根据一级检测和二级检测的检测结果对检测阈值进行自适应调整,在循环训练中,以误差作为负反馈,构成模型训练的自适应优化闭环反馈,增加二级检测和一级检测结果不一致的训练权重,包括:根据一级检测和二级检测对测试集的准确率,对检测阈值进行自适应调整,若漏检率高,则相应升高阈值,若误检率高,则相应降低阈值;在循环训练中,以误差作为负反馈,构成模型训练的自适应优化闭环反馈,增加二级检测后出现“假缺陷样本”、“缺陷种类不一致”以及“无缺陷样本”的训练权重。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京科技大学,其通讯地址为:100083 北京市海淀区学院路30号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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