合肥图迅电子科技有限公司郑飞获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥图迅电子科技有限公司申请的专利一种芯片污渍检测方法、装置、计算机设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118794961B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410751760.X，技术领域涉及：G01N21/94；该发明授权一种芯片污渍检测方法、装置、计算机设备及存储介质是由郑飞;林贵成;何振飞设计研发完成，并于2024-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片污渍检测方法、装置、计算机设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片污渍检测方法、装置、计算机设备及存储介质，属于芯片外观检测技术领域。针对现有技术中存在的芯片表面微小污渍难以检测存在漏检的问题，本发明通过设定数字图像重构距离，输入全息图像与数字图像重构距离，计算得到频谱图，对频谱图选频处理得到全息重构图，分离全息重构图得到重构强度图和包裹相位图，对包裹相位图处理得到解包裹相位图，通过重构强度图判断待检测芯片上是否存在污渍，若待检测芯片上存在污渍，通过解包裹相位图判断污渍为内表面污渍或外表面污渍，从而实现快速准确地检测出芯片内表面或外表面微小污渍，有效提高芯片污渍检测效率和检测精度。
本发明授权一种芯片污渍检测方法、装置、计算机设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片污渍检测方法，包括以下步骤：拍摄待测芯片得到全息图像；设定数字图像重构距离，输入全息图像与数字图像重构距离，计算得到频谱图；对频谱图选频处理得到全息重构图，分离全息重构图得到重构强度图和包裹相位图，对包裹相位图处理得到解包裹相位图；通过重构强度图判断待检测芯片上是否存在污渍，若待检测芯片上存在污渍，通过解包裹相位图判断污渍为内表面污渍或外表面污渍；具体的，重构强度图传递位置信息到解包裹相位图中后，在解包裹相位图中标记污渍位置，得到污渍位置轮廓截面图，在污渍位置轮廓截面图中得到污渍高度数据，若污渍高度高于平面位置，判断该污渍为外表面污渍，若污渍高度低于平面位置，判断该污渍为内表面污渍；平面位置为待测芯片表面玻璃的拟合平面的平均值。
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