深圳宏芯宇电子股份有限公司郭航旗获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉深圳宏芯宇电子股份有限公司申请的专利芯片老化测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN222850709U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421227259.5，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型芯片老化测试装置是由郭航旗;请求不公布姓名;张敦凯;请求不公布姓名;薛阿强;陈宗熙;郑颖彬;李国军;张文宗设计研发完成，并于2024-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片老化测试装置在说明书摘要公布了：本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片老化测试装置，包括：芯片老化测试板，至少设有第一测试座及第二测试座，所述第一测试座与所述第二测试座位于同一表面，且所述第一测试座与所述第二测试座位于同一水平位置；检测机构，设于所述第一测试座与所述第二测试座间，所述检测机构设有预设参数，当工作件插入至所述第一测试座及所述第二测试座后，所述检测机构生成检测参数，若所述检测参数未达到所述预设参数，所述检测机构发送异常信号。本申请提高芯片老化测试装置的测试效率、准确性和可靠性。
本实用新型芯片老化测试装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化测试装置，其特征在于，包括：芯片老化测试板，至少设有第一测试座及第二测试座，所述第一测试座与所述第二测试座位于同一表面，且所述第一测试座与所述第二测试座位于同一水平位置；检测机构，设于所述第一测试座与所述第二测试座间，所述检测机构设有预设参数，当工作件插入至所述第一测试座及所述第二测试座后，所述检测机构生成检测参数，若所述检测参数未达到所述预设参数，所述检测机构发送异常信号。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳宏芯宇电子股份有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋2501、2401、1501；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号