恭喜上海启泰沣华半导体科技有限公司请求不公布姓名获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网恭喜上海启泰沣华半导体科技有限公司申请的专利半导体时延测试方法、装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117894364B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410064221.9，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权半导体时延测试方法、装置、电子设备和存储介质是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2024-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体时延测试方法、装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种半导体时延测试方法，一种半导体时延测试方法，测试回路上设置有网络分析仪、同轴连接器、线缆和老化测试板卡，还包括测试探针组，所述老化测试板卡上设置有若干信号孔，所述线缆依次将所述网络分析仪、所述同轴连接器、所述测试探针组连接，所述测试探针组中的探针根据测试要求依次插入所述信号孔内。通过上述方式，本发明直接将测试探针组的探针直接或间接相连测量背板的信号孔，不受限于同轴连接器的个数，可有效的提升测试通道数和测试效率。
本发明授权半导体时延测试方法、装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种半导体时延测试装置，测试回路上设置有网络分析仪、同轴连接器、线缆和老化测试板卡，其特征在于，还包括测试探针组，所述老化测试板卡上设置有若干信号孔，所述线缆依次将所述网络分析仪、所述同轴连接器、所述测试探针组连接，所述老化测试板卡设置有第二背板，所述信号孔设置于所述第二背板内，所述测试回路上还设置有第一背板，所述所述测试探针组与第一背板连接，所述第一背板和所述第二背板对接，确保所述测试探针组中的探针与对于所述信号孔直接或间接相连。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海启泰沣华半导体科技有限公司，其通讯地址为：200122 上海市浦东新区崂山路526号江苏大厦17楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号