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龙图腾网恭喜武汉工程大学申请的专利一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114910780B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210329625.7，技术领域涉及：G01R31/3185；该发明授权一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质是由王振;周论;王科;于航;洪柱;肖志康设计研发完成，并于2022-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试验数据，将待测试验数据复制得到待测对照组数据；将待测试验数据和待测对照组数据分别输入至第一FPGA状态机和第二FGPA状态机中进行翻转和直接输出，得到第一试验输出数据和对照组输出数据并进行对比，根据比较结果确定第一FPGA状态机的第一输出状态；当第一输出状态为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据不一致时，重新进行试验得到第二试验输出数据并与对照组输出数据进行对比并根据所述第二比较结果确定所述第一FPGA状态机的故障容错情况。本发明解决了现有技术中对状态机进行单粒子碰撞容错性实验成本高且受实验环境影响导致实验机会少的技术问题。

本发明授权一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种故障容错性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测试验数据，将所述待测试验数据复制得到待测对照组数据；确定翻转配置信息；将所述待测试验数据转换为二进制待测试验数据；将寄存器位翻转信息数据转换为二进制寄存器位翻转信息数据，其中所述二进制寄存器位翻转信息数据与所述二进制待测试验数据的位宽一一对应；根据二进制寄存器翻转信息数据将二进制待测试验数据进行取反，并将取反后的二进制待测试验数据输入至第一FPGA状态机中进行输出得到第一试验输出数据，并将所述待测对照组数据输入至第二FPGA状态机中进行直接输出得到对照组输出数据；将所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据进行对比，并获取第一比较结果，根据所述第一比较结果确定第一FPGA状态机的第一输出状态；当所述第一输出状态为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据不一致时，则将配置信息设置为0，并重新将所述待测试验数据输入至第一FPGA状态机中进行输出得到第二试验输出数据；将所述第二试验输出数据和所述对照组输出数据进行对比，并获取第二比较结果；当第二试验出数据与所述对照组输出数据不一致时，再次将翻转配置信息设置为0，若再次试验后的输出数据与对照组输出数据一致，说明状态机在较长一段时间后能够恢复正常；若再次试验后的输出数据与对照组输出数据不一致，说明状态机的故障在经历一段时间后仍然不能恢复正常，则继续进行多次试验进行检测，直至状态机恢复正常或者试验次数达到设定的最大次数。

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