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龙图腾网恭喜普冉半导体(上海)股份有限公司申请的专利一种用于存储芯片的写入深度测试系统及其方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112599184B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011504611.1，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种用于存储芯片的写入深度测试系统及其方法是由刘松强;钱杨;朱庆芳设计研发完成，并于2020-12-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于存储芯片的写入深度测试系统及其方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于存储芯片的写入深度测试系统，包括：调压电路，输入端与主控芯片的第一输出端连接，其第一输出端与电平转换芯片的第一输入端连接，其第二输出端与待测的存储芯片的第一输入端连接；电平转换芯片的第二输入端与主控芯片的第二输出端连接，其第一输出端与存储芯片的第二输入端连接，其第三输入端与存储芯片的输出端连接；数字模拟转换器，输入端与主控芯片的第三输出端连接，其输出端与存储芯片的第三输入端连接。此发明解决了传统ATE无法脱机操作且便捷性差的问题，采用双电源和高精度DAC，实现了脱机状态下的VT板级测试，降低了测试成本，便捷了测试操作，满足了多种应用场合的灵活运用。

本发明授权一种用于存储芯片的写入深度测试系统及其方法在权利要求书中公布了：1.一种用于存储芯片的写入深度测试系统，其特征在于，包括：主控芯片，生成测试数字信号；调压电路，输入端与所述主控芯片的第一输出端连接，其第一输出端与一电平转换芯片的第一输入端连接，其第二输出端与待测的存储芯片的第一输入端连接，根据所述测试数字信号，分别为所述电平转换芯片和所述存储芯片提供第一电压和第二电压；所述电平转换芯片的第二输入端与所述主控芯片的第二输出端连接，其第一输出端与所述存储芯片的第二输入端连接，根据所述第一电压，对所述测试数字信号进行电平转换，获得处理后的测试数字信号，且与所述第二电压共同施加在所述存储芯片上；数字模拟转换器，输入端与所述主控芯片的第三输出端连接，其输出端与所述存储芯片的第三输入端连接，对所述测试数字信号进行数模转换，获得测试模拟信号；所述电平转换芯片的第三输入端与所述存储芯片的输出端连接，对所述测试模拟信号、所述第二电压和所述处理后的测试数字信号的共同施加作用下的所述存储芯片进行测试，获得测试数据，完成存储芯片的写入深度测试。

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