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龙图腾网恭喜东莞朗诚微电子设备有限公司申请的专利一种集成电路的引脚共面性检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119850609B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510323596.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种集成电路的引脚共面性检测方法及系统是由吴梓明;康金;王立雄;黄家乐设计研发完成，并于2025-03-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种集成电路的引脚共面性检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及引脚共面检测领域，具体涉及一种集成电路的引脚共面性检测方法及系统。该方法首先获取集成电路芯片在不同光照角度的灰度图像，计算出各灰度图像中每个引脚区域的亮度特征值，从所有光照角度中筛选出多个最佳光照角度，分析每个最佳光照角度下的灰度图像中各引脚区域不共面特征，获得引脚区域的不共面显著度，根据各最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的亮度特征值和各最佳光照角度之间的相关性，以及各最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的不共面显著度，获得集成电路芯片的每个引脚的不共面可能性，并对不共面引脚进行检测。本发明能够降低引脚的氧化现象对共面性检测的干扰，提高对集成电路芯片引脚共面性检测的准确性。

本发明授权一种集成电路的引脚共面性检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取集成电路芯片在光源的不同光照角度下的灰度图像，对每个灰度图像进行阈值分割，获得每个灰度图像的多个引脚区域以及每个引脚区域的亮度特征值；根据每个光照角度的灰度图像中的各引脚区域的像素点灰度值的分布以及每个引脚区域的所述亮度特征值，从所有光照角度中筛选出多个最佳光照角度；将任意一个最佳光照角度的灰度图像作为目标灰度图像，将目标灰度图像中的任意一个引脚区域作为目标引脚区域，从目标灰度图像中选取出目标引脚区域的对称引脚区域，根据目标引脚区域和所述对称引脚区域之间所述亮度特征值的差异，获得目标引脚区域的亮度异常程度；根据目标引脚区域中的像素点灰度值的分布、目标引脚区域的所述亮度特征值和光源的光照强度，获得目标引脚区域的粗糙程度；根据目标引脚区域的所述亮度异常程度和所述粗糙程度，获得目标引脚区域的不共面显著度；根据不同最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的所述亮度特征值和各最佳光照角度之间的相关性，以及各最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的所述不共面显著度，获得集成电路芯片的每个引脚的不共面可能性；基于所述不共面可能性，对集成电路芯片的不共面引脚进行检测；所述获得目标引脚区域的粗糙程度包括：将光源的光照强度作分子，将目标引脚区域的所述亮度特征值作分母，将比值作为目标引脚区域的散射程度；对目标引脚区域中的像素点灰度值的信息熵和目标引脚区域的所述散射程度进行综合，获得目标引脚区域的粗糙程度；所述获得目标引脚区域的不共面显著度包括：对目标引脚区域的所述粗糙程度进行负相关映射，获得目标引脚区域的非氧化可能性；对目标引脚区域的所述亮度异常程度和所述非氧化可能性进行综合后并进行归一化处理，获得目标引脚区域的不共面显著度；所述获得集成电路芯片的每个引脚的不共面可能性包括：将所有最佳光照角度进行排序后构成的序列，作为最佳光照角度序列；按照所述最佳光照角度序列中的各最佳光照角度的排列顺序，将所有最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的所述亮度特征值进行排序后构成的序列，作为集成电路芯片的每个引脚的亮度特征值序列；对所述最佳光照角度序列和集成电路芯片的每个引脚的所述亮度特征值序列之间的皮尔逊相关系数的绝对值进行负相关映射，获得集成电路芯片的每个引脚的第一不共面程度；将所有最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的所述不共面显著度的平均值，作为集成电路芯片的每个引脚的第二不共面程度；对所述第一不共面程度和所述第二不共面程度进行综合后并进行归一化处理，获得集成电路芯片的每个引脚的不共面可能性。

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