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龙图腾网恭喜苏州中瑞宏芯半导体有限公司申请的专利一种用于SiC MOSFET分立器件的测试工装获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119805152B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510265840.9，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种用于SiC MOSFET分立器件的测试工装是由郝建勇;张振中设计研发完成，并于2025-03-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于SiC MOSFET分立器件的测试工装在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于SiCMOSFET分立器件的测试工装，包括工装底座，以及位于工装底座两侧的第一盒体和第二盒体，所述第一盒体两侧壁体均开设有一个通槽，所述通槽的槽顶和槽底均螺栓固定有第一导轨，所述通槽内穿入有活动块，活动块上滑动连接有导电测试条，导电测试条的一端连接有弹性片，所述第二盒体内部设置有两组对称分布的固定板，和两个对称分布的活动板，以及用于驱动两个活动板相对靠拢和相对远离的驱动机构。本发明的第一盒体两侧均设置有两个活动块，活动块上活动设置有多个导电测试条，根据分立器件引脚的数量，来移动对应数量的导电测试条与引脚进行接触，从而本装置可以适用于不同型号分立器件的测试作业，适用性强。

本发明授权一种用于SiC MOSFET分立器件的测试工装在权利要求书中公布了：1.一种用于SiCMOSFET分立器件的测试工装，包括工装底座（1），以及位于工装底座（1）两侧的第一盒体（2）和第二盒体（3），其特征在于：所述第一盒体（2）两侧壁体均开设有一个通槽（8），所述通槽（8）的槽顶和槽底均螺栓固定有第一导轨（6），所述通槽（8）内穿入有活动块（10），所述活动块（10）的顶面和底面均设置有与第一导轨（6）相适配的第一滑块，所述活动块（10）上滑动连接有导电测试条（11），所述导电测试条（11）的一端连接有弹性片（12），所述第二盒体（3）远离第一盒体（2）一端套有固定架（4），所述固定架（4）的两侧贯穿有与其轴承连接的旋转轴（5），所述旋转轴（5）的一端与第二盒体（3）外壁固定连接，所述固定架（4）与工装底座（1）滑动连接，所述第二盒体（3）内部设置有两组对称分布的固定板（18），和两个对称分布的活动板（19），以及用于驱动两个活动板（19）相对靠拢和相对远离的驱动机构，每组所述固定板（18）设置有两个，两个所述固定板（18）一前一后设置。

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