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龙图腾网恭喜重庆问创医学检验实验室有限公司申请的专利一种SNV检测数据处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119673274B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510176139.X，技术领域涉及：G16B20/20；该发明授权一种SNV检测数据处理方法是由李冬冬;朱萍;聂艾维设计研发完成，并于2025-02-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种SNV检测数据处理方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种SNV检测数据处理方法，包括以下步骤：S1、数据预处理：获取每个基因检测位点的荧光信号值，并计算每个芯片位点的log2ratio值；S2、内部质控：将获取芯片上的质控位点的log2ratio数据与大样本数据建立的“标准线”分别作为“X”和“Y”建立线性回归方程；S3、分型阈值建立：用标准品建立检测位点的分型阈值；S4、服务分析模板判读：将测试样品的基因检测位点用S2建立的线性回归方程进行log2ratio校正，并依据测试样品的基因检测位点校正后最终ratio数值与分型阈值进行基因型分型，本发明是一种SNV芯片数据处理流程，以实现对SNV芯片数据的高效、准确分析。

本发明授权一种SNV检测数据处理方法在权利要求书中公布了：1.一种SNV检测数据处理方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、数据预处理：获取每个基因检测位点的荧光信号值，并计算每个芯片位点的log2ratio值；S2、内部质控：将获取芯片上的质控位点的log2ratio数据与大样本数据建立的“标准线”分别作为“X”和“Y”建立线性回归方程；S3、cut-off值建立：用标准品建立检测位点的cut-off值；S4、服务分析模板判读：将测试样品的基因检测位点用S2建立的线性回归方程进行log2ratio校正，并依据测试样品的基因检测位点校正后最终ratio数值与cut-off值进行基因型分型；S1中，荧光信号值包括每个基因检测位点在532nm荧光波段的前景值扣除背景值后的数值F532-B，以及每个基因检测位点在635nm荧光波段的前景值扣除背景值后的数值F635-B，每个芯片位点的log2ratio值为将每个点的F532-B除以F635-B后的数值取以2为底的对数值；S3中，cut-off值建立方法为： S4中log2ratio校正方法包括：将所有的基因检测位点log2ratio数值除以线性回归方程的斜率值后可得到斜率校正ratio，再将斜率校正ratio减去线性回归方程的截距值后得到最终ratio；分型逻辑：测试样品的最终ratio值Highcut-off，基因型别为T1；若测试样品的最终ratio值Lowcut-off，基因型别为T3；若Lowcut-off≤测试样品的最终ratio值≤Highcut-off，基因型别为T2。

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