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龙图腾网恭喜深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利用于芯片测试的测试码型确定方法及控制器、设备、介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119557155B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510105849.3，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权用于芯片测试的测试码型确定方法及控制器、设备、介质是由郑汶设计研发完成，并于2025-01-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于芯片测试的测试码型确定方法及控制器、设备、介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种用于芯片测试的测试码型确定方法及控制器、设备、介质，涉及芯片测试技术领域。方法包括：依次基于不同类型的测试函数对待测芯片进行读写测试得到第一测试结果；当第一测试结果为1，判断第一读写测试处理不通过，检测出故障，响应于生成的第一报错信号，运行根据第一使能信号从多个候选测试算法中确定的第一目标测试算法，根据第一故障类型标志调用第一预设码型文件；依次基于第一预设码型文件的多个候选测试码型对待测芯片进行读写测试对应得到多个第二测试结果；根据第二测试结果将检测出故障的候选测试码型确定为第一目标测试码型，以对批量同类型的待测芯片进行不良品筛选测试。能提高选取目标测试码型的可靠程度和效率。

本发明授权用于芯片测试的测试码型确定方法及控制器、设备、介质在权利要求书中公布了：1.一种用于芯片测试的测试码型确定方法，其特征在于，方法包括：依次基于预设标准测试文件的不同类型的测试函数，对待测芯片进行第一读写测试处理得到第一测试结果；当所述第一测试结果为1，判断所述第一读写测试处理不通过，检测出故障，中断测试并标记第一中断位置，生成第一报错信号；所述第一报错信号包括：第一使能信号和第一故障类型标志；响应于所述第一报错信号，根据所述第一使能信号从多个候选测试算法中确定第一目标测试算法；所述候选测试算法的数量与所述测试函数的类型数量相同；运行所述第一目标测试算法，根据所述第一故障类型标志调用第一预设码型文件；依次基于所述第一预设码型文件的多个候选测试码型，对所述待测芯片进行第二读写测试处理，对应得到多个第二测试结果；根据所述第二测试结果，将检测出故障的所述候选测试码型确定为第一目标测试码型；所述第一目标测试码型用于对批量同类型的待测芯片进行不良品筛选测试。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市晶存科技股份有限公司，其通讯地址为：518048 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦三层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。