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恭喜深圳精智达技术股份有限公司唐卫卫获国家专利权

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龙图腾网恭喜深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种显示屏多层异物检测的方法及相关装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119470472B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510032855.0,技术领域涉及:G01N21/95;该发明授权一种显示屏多层异物检测的方法及相关装置是由唐卫卫;杨硕设计研发完成,并于2025-01-09向国家知识产权局提交的专利申请。

一种显示屏多层异物检测的方法及相关装置在说明书摘要公布了:本申请公开了一种显示屏多层异物检测的方法及相关装置,用于提高屏幕缺陷检测的效率和质量。本申请的显示屏多层异物检测的方法包括:分别获取LCD屏的多个层级的目标定位高度;分别通过相机获取多个层级的图像信息;分别对多个层级的图像信息进行差异化处理,获得多个对比度增强图;分别根据多个对比度增强图获得多个形态特征;分别对多个形态特征进行计算,获得多个缺陷特征量值,缺陷特征量值表征缺陷与背景之间的差异;对比多个缺陷特征量值的数值大小,获取最大缺陷特征量值;将最大缺陷特征量值对应的层级确定为缺陷对应的层级;根据缺陷对应的层级的对比度增强图和LCD屏的物理尺寸,计算所述缺陷的尺寸。

本发明授权一种显示屏多层异物检测的方法及相关装置在权利要求书中公布了:1.一种显示屏多层异物检测的方法,其特征在于,包括:以LCD屏的像素层的目标定位高度为基准,分别获取所述LCD屏的多个层级的目标定位高度;根据所述多个层级的目标定位高度,分别通过相机获取所述多个层级的图像信息;分别对所述多个层级的图像信息进行灰度变换,获取多个层级的灰度图;分别对所述多个层级的灰度图进行降噪和降背景干扰处理,获得多个层级的预处理图;获取目标卷积公式,所述目标卷积公式如下所述: ;其中,所述IDF为对比度增强图,所述I为预处理图,所述kx1、所述kx2为所述预处理图对应的水平方向上的两个卷积核,所述ky1、所述ky2为所述预处理图对应的垂直方向上的两个卷积核,所述weight为权重增强系数;根据所述目标卷积公式,分别对所述多个层级的预处理图进行计算,获得多个对比度增强图;根据自适应阈值算法,分别对所述多个对比度增强图进行缺陷区域检测,获得多个形态特征,所述形态特征为所述LCD屏上的缺陷分别在所述多个层级上对应显示的形态特征;分别对所述多个形态特征进行计算,获得多个缺陷特征量值,所述缺陷特征量值表征所述缺陷与背景之间的差异;对比所述多个缺陷特征量值的数值大小,获取最大缺陷特征量值;将所述最大缺陷特征量值对应的层级确定为所述缺陷对应的层级;根据所述缺陷对应的层级的对比度增强图和所述LCD屏的物理尺寸,计算所述缺陷的尺寸。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深圳精智达技术股份有限公司,其通讯地址为:518000 广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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