恭喜中国科学院上海技术物理研究所夏辉获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种探测器截面光响应分布检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119374867B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411906797.1，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种探测器截面光响应分布检测方法及系统是由夏辉;孙聊新;李天信;张博;于春蕾设计研发完成，并于2024-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种探测器截面光响应分布检测方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种探测器截面光响应分布检测方法及系统，涉及探测器的量测领域，该方法包括：采用解离工艺制备探测器的解离面；采用光诱导电流技术检测所述探测器的解离面的光生电流分布特征，以确定探测器截面的光响应分布。本申请在对探测器解离后未引入额外的漏电通道，将探测器的功能结构完全暴露的同时，保证探测器能正常工作，进而能够在探测器工作状态下提取其截面的光生电流分布特征。
本发明授权一种探测器截面光响应分布检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种探测器截面光响应分布检测方法，其特征在于，所述探测器截面光响应分布检测方法包括：采用解离工艺制备探测器的解离面；所述解离面穿过探测器的光敏元区域，使光敏元的截面裸露出来；采用光诱导电流技术检测所述探测器的解离面的光生电流分布特征，以确定探测器截面的光响应分布。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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