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龙图腾网恭喜上海泰矽微电子有限公司申请的专利一种提高低功耗数模混合芯片测试覆盖率的装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119336561B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411533325.6，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种提高低功耗数模混合芯片测试覆盖率的装置及方法是由余意;熊海峰;潘明方设计研发完成，并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种提高低功耗数模混合芯片测试覆盖率的装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种提高低功耗数模混合芯片测试覆盖率的装置及方法，其中所述装置包括：数字模块和模拟模块，所述数字模块包括：可关闭电源域、第一隔离单元、第二隔离单元、第三隔离单元、第四隔离单元、常开电源域、隔离点绕回模块和绕回逻辑测试模块；所述第三隔离单元、第四隔离单元的输入端均连接可关闭电源域，且输出端直接连接模拟模块；所述隔离点绕回模块的外部设有所述第三隔离单元的输出端的第一绕回点和所述第四隔离单元的输出端的第二绕回点，且所述第一绕回点和第二绕回点均连接到绕回逻辑测试模块；本发明有助于提高整个数字模块的测试覆盖率，以满足越来越严苛的DPPM要求。

本发明授权一种提高低功耗数模混合芯片测试覆盖率的装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种提高低功耗数模混合芯片测试覆盖率的装置，包括:数字模块和模拟模块，其特征在于：所述数字模块包括：可关闭电源域、第一隔离单元、第二隔离单元、第三隔离单元、第四隔离单元、常开电源域、隔离点绕回模块和绕回逻辑测试模块；所述第三隔离单元、第四隔离单元均设置在隔离点绕回模块的内部；所述第一隔离单元、第二隔离单元的输入端均连接可关闭电源域，且输出端通过常开电源域连接到模拟模块；所述第三隔离单元、第四隔离单元的输入端均连接可关闭电源域，且输出端直接连接模拟模块；所述隔离点绕回模块的外部设有所述第三隔离单元的输出端的第一绕回点和所述第四隔离单元的输出端的第二绕回点，且所述第一绕回点和第二绕回点均连接到绕回逻辑测试模块；所述绕回逻辑测试模块包括：第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选择器、第一寄存器和第二寄存器；其中：所述第一绕回点和第二绕回点均连接到第一多路选择器的其中一路输入端，所述第一多路选择器的输出端连接第二多路选择器的一路输入端；所述第二多路选择器的输出端连接第一寄存器的输入端；所述第一寄存器的输出端连接第三多路选择器的一路输入端，且所述第三多路选择器的输出端连接第二寄存器的输入端，且所述第二寄存器具有一输出端，在测试模式下，所述第二寄存器的输出端在测试模式下用作扫描链的信号输出。

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