恭喜南京邮电大学;南京邮电大学南通研究院有限公司郭宇锋获国家专利权
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龙图腾网恭喜南京邮电大学;南京邮电大学南通研究院有限公司申请的专利一种基于样本数据的半导体器件仿真结果置信度分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115062549B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210825760.0，技术领域涉及：G06F30/27；该发明授权一种基于样本数据的半导体器件仿真结果置信度分析方法是由郭宇锋;郭斌;陈静;姚清;代玙璇;张茂林;张珺;姚佳飞设计研发完成，并于2022-07-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于样本数据的半导体器件仿真结果置信度分析方法在说明书摘要公布了：本发明是一种基于样本数据的半导体器件仿真结果置信度分析方法，包括如下步骤：步骤1：根据实际样本空间数据来源，分别设置所述实际样本空间数据的置信度权重；步骤2：根据待仿真的器件结构参数，设置邻域半径；步骤3：根据相似性函数将邻域半径内空间点的结构参数与仿真样本结构参数代入所述相似性函数，计算得到邻域半径内空间点的结构参数与仿真样本结构参数之间的相似性；步骤4：根据相似性计算结果，计算获取邻域样本空间相对于仿真样本的置信度。本发明将样本数据的置信度引入置信度公式，有效提高了置信度评估的精度，通过控制邻域的数值，不仅可考虑小范围邻域空间，也可考虑整体数据区间，能有效指导设计进程。
本发明授权一种基于样本数据的半导体器件仿真结果置信度分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于样本数据的半导体器件仿真结果置信度分析方法，其特征在于：所述半导体器件仿真结果置信度分析方法包括如下步骤：步骤1：根据实际样本空间数据来源，分别设置所述实际样本空间数据的置信度权重，其中Xi代表器件的结构参数；步骤2：根据待仿真的器件结构参数X0，设置邻域半径R；步骤3：根据相似性函数将所述步骤2中的邻域半径R内空间点的实际样本空间结构参数Xi与仿真样本结构参数X0代入所述相似性函数，计算得到邻域半径R内空间点的结构参数Xi与仿真样本结构参数X0之间的相似性gXi,X0；步骤4：根据步骤3相似性计算结果，计算获取邻域样本空间相对于仿真样本的置信度。
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