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龙图腾网恭喜中国工程物理研究院电子工程研究所申请的专利基于热电效应的半导体设备动态热管理方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115145378B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210776998.9，技术领域涉及：G06F1/20；该发明授权基于热电效应的半导体设备动态热管理方法及设备是由龚廷睿;李良辉;李俊焘;高磊设计研发完成，并于2022-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于热电效应的半导体设备动态热管理方法及设备在说明书摘要公布了：本发明提供了基于热电效应的半导体设备的动态热管理方法及设备，主要利用基于热电效应的热电制冷器件主动控制半导体设备的热斜率进行降温，当半导体设备的当前热斜率大于固定斜率阈值，启动参数计算电路，进行优化计算，获得热电制冷器件的工作电流或工作电压，并利用动态热管理电路启动热电制冷器件及时对半导体设备进行降温，控制其热斜率达到甚至低于固定斜率阈值。本发明在保持甚至提升半导体设备原有功率的前提下，实现了半导体设备的动态热管理，使得半导体设备可以在更长的时间内维持高功率工作状态，为高重频半导体设备高性能工作状态下的热管理提供了一种新思路，同时该方法能够对局部热点提供精准、实时地冷却，可靠性高、适用性强。

本发明授权基于热电效应的半导体设备动态热管理方法及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于热电效应的半导体设备的动态热管理方法，其特征在于，所述方法包括：S1：通过温度测量部件获取待监测半导体设备热源的当前采样温度；S2：基于当前采样温度以及存储的之前的采样温度计算当前热斜率；S3：判断当前热斜率是否大于预定义的固定热斜率阈值，若是，则执行步骤S4，若不是则执行步骤S1；S4：建立热电制冷器件参数与待测半导体设备的工作参数之间的热模型，并以固定斜率阈值为优化目标，利用目标优化算法对热模型进行最优计算，计算获得热电制冷器件的最佳工作电流或者电压以及待监测半导体设备的最优参数；S5：根据步骤S4计算的最佳工作电流或者工作电压启用热电制冷器件工作；并根据步骤S4计算的待监测半导体设备的最优参数，调整待监测半导体设备，使待监测半导体设备保持在原有功率预算工作或比原有功率预算更高的情况下工作；S6：重复上述步骤S1～S5，直至半导体设备不需要进行动态热管理后停止。

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