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龙图腾网恭喜西安立芯光电科技有限公司申请的专利半导体激光器件光学灾变损伤（COD）阈值测试技术获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115219865B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110433415.8，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权半导体激光器件光学灾变损伤（COD）阈值测试技术是由南瑶;腾飞;孙翔;李青民;李伟;金旭;仇伯仓设计研发完成，并于2021-04-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体激光器件光学灾变损伤（COD）阈值测试技术在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体激光器件测试领域，主要涉及一种半导体激光器件的光学灾变损伤COD阈值测试技术，脉冲电流驱动半导体激光器，从小到大逐渐变化的脉冲峰值电流、脉冲宽度、重复频率、温度、脉冲个数、应力等参数，光电探测器测量脉冲激光，响应峰值功率剧衰，判断COD发生；激光脉冲的时间间隔是采样周期的倍数小数部分在有效位数内为不循环小数，使得对系列脉冲波形采集到的采样点在激光波形上扫描，重构后获得激光脉冲的完整波形，弥补了欠采样对峰值功率测量的影响；在脉冲波形峰值点附近一定时域内取采样点响应平均值，降低了噪声对峰值功率测量结果的影响，优化了测量不确定度；采用脉冲激光波形突变判定损伤阈值，减少测试成本。

本发明授权半导体激光器件光学灾变损伤（COD）阈值测试技术在权利要求书中公布了：1.一种欠采样条件下脉冲激光峰值功率测量方法，其特征在于：①设置重复脉冲电流驱动电源1的重复频率f，使激光器输出激光脉冲的时间间隔T＝1f除以采集卡4采样周期T0等于δ，δ的小数部分在有效位数内为不循环小数，确保采样点在脉冲激光波形上扫描；②激光器发射重复频率f的脉冲激光，快速光电探测器3接收一系列激光脉冲输出脉冲波形系列，采集卡4采集一系列k个脉冲波形，提取每个脉冲波形采样点的响应值及相对时序数据；③寻找k个脉冲波形的响应峰值及其时序位置，并找出响应峰值最大值Vp；④找出k个波形的后沿中响应值在Vp2的±x％以内的ki个波形的采样点Mi，i＝1，2，3，…，ki，并依据响应值大小排序，对采样点Mi以a＝T0k的倍数反序j赋值时序Mij，j＝1，2，3，…，ki；⑤找出ki个波形的其余采样点，并依据测量采样时序相对位置确定其他采样点的时序位置Mi,nT0+ja，n＝±1，±2，±3；⑥找出除去ki个以外的其他波形k’的前沿上的采样点B，与ki个波形的前沿上响应值进行比较，依据响应值大小用等比例插入法确定时序位置Bk’，t；⑦确定k’个波形的其他采样点Bk',nT0+t，依据所有采样点的响应值和时序位置绘制波形图；⑧计算k个脉冲波形图的前沿和后沿轮廓覆盖面积A，微调整轮廓线上采样点的时序位置，使覆盖面积A取极小值，获得脉冲波形重构图；⑨计算脉冲波形重构图中落入最大值Vp的对应点附近±T0m时序内的所有采样点响应值的平均值V，m为整数；⑩计算峰值功率P＝CRV，其中：C为衰减倍数，R为快速光电探测器3的响应灵敏度。

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