恭喜长鑫存储技术有限公司林家圣获国家专利权
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龙图腾网恭喜长鑫存储技术有限公司申请的专利失效图形的获取方法和获取装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114004778B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010730179.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权失效图形的获取方法和获取装置是由林家圣设计研发完成，并于2020-07-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本失效图形的获取方法和获取装置在说明书摘要公布了：一种失效图形的获取方法和获取装置，其中失效图形的获取方法，包括：包括：获得一晶圆内的芯片测试结果图像，所述芯片测试结果图像中标记有若干失效测试点；计算所有失效测试点间每两点的向量；将具有相同向量的若干失效测试点定为同一群体；从每一个群体中分出若干种待定失效图形；基于所述若干种待定失效图形获得失效图形。通过前述步骤可以准确和快速的获得失效图形，所述失效图形用于判断测试机台是否存在问题，如果获得了失效图形，则可判断所述测试机台的测试环境存在问题，从而测试人员可以对测试机台的测试环境比如对测试程序进行修改进行调整，从而防止测试机台误检测的发生，提高电学测试的准确性。
本发明授权失效图形的获取方法和获取装置在权利要求书中公布了：1.一种失效图形的获取方法，其特征在于，包括：获得一晶圆内的芯片测试结果图像，所述芯片测试结果图像中标记有若干失效测试点；所述晶圆内具有若干芯片，每一个所述芯片具有若干内存地址，一个所述芯片对应具有一个芯片测试结果图像；所述芯片测试结果图像获得过程为：对芯片中的每一个内存地址进行电学性能测试，获得若干电学测试结果；将若干电学测试结果根据内存地址排布获得的行列排布图像，前述获得的图像为芯片测试结果图像，所述芯片测试结果图像中的一个所述失效测试点对应一个内存地址；计算所有失效测试点间每两点的向量；将具有相同向量的若干失效测试点定为同一群体；从每一个群体中分出若干种待定失效图形；基于所述若干种待定失效图形获得失效图形。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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